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Minitest2100涂層測厚儀|Minitest2100涂層測厚儀

來源:上海鼎徵儀器儀表設(shè)備有限公司 2012年11月04日 12:54

 

上海鼎徵儀器儀表設(shè)備有限公司
徐自勤
地址:上海恒通路36020A18
www.dingzhi17.com  www.dingzhi18.com
竭誠歡迎廣大新老客戶光臨,,本公司將以zui熱忱的服務(wù)和*惠的價格回饋大家,!

德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,,各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能,;
所有型號均可配所有探頭;
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機,;
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn),。
 

MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀功能
型號
1100
2100
3100
4100
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))
1
1
10
99
每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計,可設(shè)寬容度極限值)
-
1
10
99
可用各自的日期和時間標(biāo)識特性的組數(shù)
-
1
500
500
數(shù)據(jù)總量
1
10000
10000
10000
MINITEST統(tǒng)計計算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar
-
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
-
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar
-
-
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
-
存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)
-
-
-
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值
-
-
顯示并打印測量值,、打印的日期和時間
-
其他功能
透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC)
-
在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)
利用計算機進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)
補償一個常數(shù)(Offset)
-
-
外設(shè)的讀值傳輸存儲功能
-
保護并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置
更換電池是存儲數(shù)值
設(shè)置極限值
-
-
公英制轉(zhuǎn)換
連續(xù)測量模式快速測量,,通過模擬柱識別zui大zui小值
-
-
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
-
-
浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送
組內(nèi)單值延遲顯示
-
連續(xù)測量模式中顯示zui小值

可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,,基體材料以及基體的形狀,、厚度、大小,、幾何尺寸等因素,。
F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
探頭
量程
低端
分辨率
誤差
zui小曲率
半徑(凸/凹)
zui小測量
區(qū)域直徑
zui小基
體厚度
探頭尺寸


應(yīng)
 
 
 
 
 
 
 
F05
0-500μm
0.1μm
±(1%±0.7μm)
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
F1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x170mm
F3
0-3000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F10
0-10mm
5μm
±(1%±10μm)
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
F20
0-20mm
10μm
±(1%±10μm)
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
F50
0-50mm
10μm
±(3%±50μm)
50/200mm
300mm
2mm
φ45x70mm


 
 
 
FN1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm
N50μm
φ15x62mm
FN1.6P
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面
30mm
F0.5mm
N50μm
φ21x89mm
FN2
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm
N50μm
φ15x62mm



 
 
 
 
 
 
 
 
 
N02
0-200μm
0.1μm
±(1%±0.5μm)
1/10mm
2mm
50μm
φ16x70mm
N.08Cr
0-80μm
0.1μm
±(1%±1μm)
2.5mm
2mm
100μm
φ15x62mm
N1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
2mm
50μm
φ15x62mm
N1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x170mm
N10
0-10mm
10μm
±(1%±25μm)
25/100mm
50mm
50μm
φ60x50mm
N20
0-20mm
10μm
±(1%±50μm)
25/100mm
70mm
50μm
φ65x75mm
N100
0-100mm
100μm
±(1%±0.3mm)
100mm/平面
200mm
50μm
φ126x155mm
CN02
10-200μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面
7mm
無限制
φ17x80mm
注: F1.6/90、F2/90,、N1.6/90,、N2/90為直角探頭,,用于管內(nèi)測量。
N.08Cr適合銅上鉻,,F(xiàn)N2也適合銅上鉻,。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

探頭圖示
FN1.6
0~1600μm,φ5mm
兩用測頭,,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
兩用測頭,, 特別適合測粉末狀的覆層厚度


F05
0~500μm,φ3mm
磁性測頭,適于測量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層,,如金屬鍍層,,氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)

F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(0.1μm)

F3
0~3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層

F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

F10
0~10mm,φ20mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,,如玻璃,、塑膠、混凝土等


F20
0~20mm,φ40mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱,、管道等)上的防腐覆層,如玻璃,、塑膠,、混凝土等

F50
0~50mm,φ300mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

N02
0~200μm,φ2mm
非磁性測頭,,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
適用于測量銅,、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性測頭,,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭,,適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N10
0~10mm,φ50mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,,如橡膠玻璃等

N20
0~20mm,φ70mm
非磁性測頭,,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

N100
0~100mm,200mm
非磁性測頭,,適于測量較厚的絕緣覆層,,如橡膠玻璃等
CN02
10~200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板

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