MC-2000A型涂（鍍）層測厚儀使用方法 

1.開機：先取開探頭線插在儀器上,，（插拔探頭時，請抓住探頭線上的接插件部位插拔，不要直接抓住探頭線,，以免損壞探頭。）然后按動“ON/OFF”鍵（探頭與鐵基或磁場的距離保持10cm以上)開機聽到蜂鳴聲后儀器進入測量狀態(tài),，可以直接進行測量,。如果測量數(shù)據(jù)偏差較大，可以進行校準后再測量,。

測量時要注意測量指示,箭頭消失后才能再次測量,，如右圖

    2.校準：本儀器分為系統(tǒng)校準、兩點校準和鐵基校準三種,。在一般情況下只需進行鐵基校準即可進行準確測量,。當儀器鐵基與被測件鐵基的磁性和表面粗糙度差別較大時，可以進行系統(tǒng)校準以保證測量度,。

(1) 鐵基校準（零點校準）

儀器標準基體金屬的磁性和表面粗糙度應(yīng)當與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似,。為了保證測量的性，可以在測量測試件之前*行鐵基校準,。

校準方法：在儀器開機狀態(tài)下,，將探頭垂直的放在被測試件的裸露基體上進行測量,，測量兩次，測完第二次按住探頭不動按下"CAL"鍵,，伴隨著兩聲蜂鳴即可完成鐵基的校準,。如果沒發(fā)出兩聲蜂鳴說明操作有誤，重新按以上步驟操作直至發(fā)出兩聲蜂鳴即可,。

(2) 兩點校準

在測量過程當中,，如果發(fā)現(xiàn)個別測量值偏差較大可以通過兩點校準方法進行調(diào)整。

校準方法：把一個已知厚度的被測試件作為標準樣片進行測量,，如果顯示值與真實值不一致,，可以通過"▲"、"▼"鍵進行加1或減1操作,。按住"▲",、"▼"鍵不放可以進行連續(xù)加、減,，直到顯示值和真實值相同為止,。校準完成后即可進行正常

注意：兩點校準時選用的被測試件厚度不要與系統(tǒng)校準時的五個樣片值接近，否則操作無效,。

(3) 系統(tǒng)校準

儀器在出廠前已經(jīng)經(jīng)過技術(shù)人員系統(tǒng)校準,，為保證度也可在工作現(xiàn)場進行二次系統(tǒng)校準。

系統(tǒng)校準過程：

在關(guān)機狀態(tài)下同時按住"ON/OFF"鍵和"MENU"鍵,，先放開"ON/OFF"鍵然后放開"MENU"鍵即可進入系統(tǒng)校準模式,。

本系統(tǒng)校準共需要校準五個標準樣片，進入系統(tǒng)后首先顯示"鐵基"界面,，此時要把探頭垂直的放到被測件的裸露基體上進行測量,。測量兩次后如果測量沒有錯誤操作，伴隨著兩聲蜂鳴便進入*個樣片的測量,。屏幕顯示出廠時提供的*個樣片值,。如果顯示的樣片值和真實值不符，可以通過"▲▼"鍵來進行加1或減1操作,。按住"▲″或"▼"鍵不動可以連續(xù)加或減,，直到調(diào)整到顯示值和真實值相同為止。調(diào)整完樣片值之后即可對*個樣片進行測量,，測量兩次無誤后,，伴隨著兩聲蜂鳴，儀器進入下一個樣片的校準,。若測量兩次后仍無兩聲蜂鳴,，說明操作有誤，重新測量一次即可,。接下來四個樣片的調(diào)整方法同上,。

    當?shù)谖鍌€樣片校準完成后屏幕顯示"0000'',，進入開機界面如圖A，儀器此時即完成了系統(tǒng)校準過程,。以后就可以對被測件直接進行測量,。

注意：這五個樣片可以使用儀器提供的標準片也可以使用

已知厚度的樣片作為標準片。樣片校準時要按照由小到大的順序進行,，相鄰樣片間應(yīng)該有一定的差值,。系統(tǒng)校準時所選用的鐵基必須是平整的而且其表面要大于30mm×30mm。

如果由于現(xiàn)場強磁場干擾或者操作不當造成系統(tǒng)紊亂時,，可以通過系統(tǒng)初始化設(shè)置進行系統(tǒng)恢復(fù),。

系統(tǒng)初始化設(shè)置：

    在關(guān)機狀態(tài)下，同時按住“▲▼”鍵不動,，然后按一下"ON/OFF"鍵,，直到屏幕顯示“OK”。松開“▲▼”鍵,，初始化設(shè)置即可完成,。此時儀器顯示“鐵基”，儀器進入系統(tǒng)校準狀態(tài),，按照系統(tǒng)校準的方法,，校準完成后即可正常測量,。

    3.在測量狀態(tài)下存儲

在測量狀態(tài)下屏幕顯示為測量值,，如需存儲按動儀器上面的“ENTER”鍵，存儲地址自動加1,。例如當前地址為0004,，測量厚度值為1054um，存儲后地址變?yōu)?/span>0005,，顯示界面如圖示,。

屏顯結(jié)果只能被存儲一次，如需另外存儲可重新測量,。如果要從初始地址重新開始存儲可以在存儲讀出菜單下長按"ENTER"鍵,，儲存序列號就會回歸至初始地址0001，即可開始重新儲存,。