爐前快速碳硅分析儀
爐前快速碳硅分析儀

    爐前快速碳硅分析儀能夠檢測分析鋼鐵中的碳、硅等元素的含量,，而這些元素在鋼鐵中的含量對鋼鐵的質量和性能有著重要的影響,，因此爐前分析十分關鍵,。

    用光譜儀進行元素分析時,，當某一元素的譜線用來測量含量,，其附近有一條譜線影響時，干擾校準是必須的,。如果光譜儀分辨率不能消除這條線的影響,，則它將受到“干擾”，即元素的譜線,，測量含量顯著增加,，原因是存在一個疊加光強值。下面介紹下元素干擾的預防,。

    由于存在譜線的重疊現(xiàn)象,，光譜儀生產(chǎn)廠家在制造選擇譜線時盡量避開有干擾的元素，消除或減少這種干擾,。

    元素干擾的預防方法有以下兩種：

    1,、在待測材料中選擇不受干擾的譜線。例如,，測量低含量鋁時,，可選擇兩條靈敏線,，Al線394.4nm和396.1nm,。其中396.1nm比較靈敏，但受Mo的干擾,。因此,，往往選擇Al394.40nm用來測量鋼鐵中低含量的Al。一般光譜儀生產(chǎn)廠家都是根據(jù)基體材質的情況選擇合適的譜線,。

    2,、用分辨率較大的光譜儀,。一般長焦距儀器可具有更大的分辨率，對同一級光譜儀來講,，一臺3m的光譜儀分辨率比1m光譜儀更大,，但3m或2m光譜的焦距比1m光譜儀更大。這樣,，產(chǎn)生的問題是占據(jù)較大的空間,，光學系統(tǒng)不夠穩(wěn)定，到達光電倍增管的光強也弱,。為了克服這些問題選用衍射光柵的二級譜線,。二級譜線的分辨率是一級光譜的兩倍。例如入射狹縫為25µm,，出射狹縫寬度為88µm,，其一級光譜的分辨率為0.0375nm，其二級光譜為0.0188nm,。若入射狹縫寬度為10µm,，其二級光譜的分辨率為0.0058nm。

    一般來講隨著光譜的級數(shù)增加,，能量逐漸降低,。在不是閃耀區(qū)域，二級譜線的強度,，只是一級光譜強度的0.25倍,。選用刻線為1440條/mm凹面光柵這是光譜波長范圍和分辨率的主要因素。光譜儀包括了全部待測元素靈敏的波長,。一級譜線波長范圍346.0-767.0nm,，其中包括Na、Li,、K的靈敏線,。并在光學設計上沒有附加光路，波長愈長,，干擾愈小,。二級光譜波長范圍是173.0-383.5nm，包括P,、S,、B等元素在其區(qū)域的靈敏線。此區(qū)域有發(fā)射光譜較佳的譜線和較好的分辨率,。

     ,，以上為光譜分析中元素干擾及預防干擾的相關介紹，做好這些工作,，對于提高光譜分析的準確度具有重要意義,。