四探針電阻率測(cè)試儀是一種采用四探針,、三探針和擴(kuò)展電阻的電阻率測(cè)試儀,，四探針電阻率測(cè)試儀一般目前的四探針電阻率（電導(dǎo)率）測(cè)試儀均已配置厚度的修正，通過厚度數(shù)值的設(shè)置,，計(jì)算出不同的樣品厚度對(duì)電阻率的影響,。數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置，zui常用的是直線型四探針,。四根探針的針尖在同一直線上,，并且間距相等，都是S,，一般采用0.5mm的間距,，不同的探針間距需要對(duì)測(cè)量結(jié)果做相應(yīng)的校正。四探針電阻率測(cè)試儀可以測(cè)量片狀,、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率,，擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測(cè)柔性導(dǎo)電薄膜和玻璃等硬基底上導(dǎo)電膜的方塊電阻（簡(jiǎn)稱方阻）,，換上四端子測(cè)試夾具,，四探針電阻率測(cè)試儀還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低,、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量,。

    四探針電阻率測(cè)試儀儀器所有參數(shù)設(shè)定,、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入；具有零位,、滿度自校功能,；自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；測(cè)試探頭采用寶石導(dǎo)向軸套和高耐磨碳化鎢探針制成,，故定位準(zhǔn)確,、游移率小、壽命長(zhǎng),；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示,。四探針電阻率測(cè)試儀在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測(cè)量，能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸,、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,。因而每次測(cè)量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置,。由于每次測(cè)量都是對(duì)幾何因素的影響進(jìn)行動(dòng)態(tài)的自動(dòng)修正,，四探針電阻率測(cè)試儀測(cè)試程序控制四探針測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量并采集測(cè)試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析,，然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格,，圖形直觀地記錄、顯示出來,。