主要功能  

激光光斑光強的二維分布  

激光光斑光強的三維分布（任意方位,、俯仰角）  

光斑直徑（按半高全寬,、1/e2,、刀口法3種定義）  

高斯擬合坐標軸旋轉(zhuǎn)選取光斑主軸  

連續(xù)采集脈沖激光的軟觸發(fā)  

系統(tǒng)構成  

采集卡軟件包光學暗箱（含分光衰減系統(tǒng),、軌道等）  

B20-WKD系列備有IV型和H型兩種光學暗箱臺式電腦（選購）  

主要特點:  

B20-WKD系列激光光束分析儀是北京達美達科技有限公司在LS-3、LS-4,、LS-5等系列產(chǎn)品的基礎上開發(fā)的版本,。屏幕界面為英文，配有中文說明書,。  

B20-WKD系列是基于PC機的“裝配式”系統(tǒng),，可根據(jù)用戶的需求及自有資源情況靈活配置。硬件可靠性高,，軟件升級方便,。  

B20-WKD系列激光光束分析儀由以下部分組成：  

1.基本系統(tǒng)：  

圖象采集卡：用于采集來自光圖象探測器的模擬信號，將其變?yōu)镻C機可接受的數(shù)字信號后送入PC機處理,；  

軟件包：由“實時探測”,，“存貯功能”，“分析測試”等幾部分組成  

2.圖象探測器：  

根據(jù)被測激光的波長,，選擇適當?shù)膱D象探測器的一種或幾種：  

標準配置：1/2英寸CCD（電荷耦合器件）探測器,，光譜響應為可見及近紅外波段（360nm－1100nm）。該CCD適用于大多數(shù)常用激光器,，如He-Ne,，Ar離子，Nd:YAG,、Nd:YVO4及其二,、三次倍頻（532、355nm）,，半導體發(fā)光管及激光管,，染料及鈦寶石激光器等，這些激光器的波長均在其標配CCD的敏感波長范圍內(nèi),。該CCD的圖像敏感面積為6.4x4.8mm2,。特殊需求可選配其他規(guī)格的CCD。  

其它可選圖像探測器：  

a)2/3“英寸CCD（360nm－1100nm,，圖像敏感面積8.8x6.6mm2）  

b）紅外敏化型CCD（紅外響應至1310,、1650nm）  

c）可見及近紅外光電陰極攝像管  

使用PbO,，PbS光電陰極的真空攝像管作為圖象探測器。適用于0.4～1.9μ波長范圍的探測,，增強型可探測0.4～2.2μ,。  

d)熱電型探測器（Pyroelectric）  

主要用于測量CO2激光(10.6μ)及其倍頻等。波長范圍為0.8~20μ紅外激光,。  

3.光學暗箱  

由于被探測的激光強度通常高出圖象探測器接收靈敏度若干個量級,，因此必須將被測激光強度衰減到探測器的線性工作區(qū)內(nèi)。光學暗箱提供分光,、衰減系統(tǒng),，使被測激光束無畸變地衰減到CCD的響應區(qū)（線性工作區(qū)），并屏蔽來自多方面的雜散光,，使其不干擾高靈敏的圖象探測器,。WKD型光學暗箱由箱體、電源及楔形石英分束器,、楔形反射器,、衰減系統(tǒng)（固定衰減片組、連續(xù)衰減器）,、光陷阱,、透射屏及光學導軌等組成。H型光學暗箱的內(nèi)部結構和所含的元部件與IV型*相同：均含石英分光光楔與調(diào)節(jié)架,、反射光楔與調(diào)節(jié)架,、連續(xù)衰減器、固定衰減片組,、CCD及電源等,。差別是H型使用機箱外軌道；IV使用機箱內(nèi)軌道  

石英光楔分束器  

        利用石英光楔的內(nèi)二次反射對被測光束進行前級無失真衰減（衰減率約0.15%）,。由于光學級石英對被測光束的吸收小,、熱脹系數(shù)小，在較強激光照射下對被測光束功率/能量分布的畸變也極小,，適于作為前級衰減。  

 楔形反射鏡及二維精密調(diào)節(jié)架  

     利用光楔的前表面反射對經(jīng)前級衰減的光束進行二次衰減（衰減率約4％）及導向,。  

 中性衰減片組：包括連續(xù)衰減器和固定衰減片組  

     固定衰減片組 用于較大幅度衰減被測光強,。該組共有6片衰減片，每個衰減數(shù)量級2片,，其衰減倍率跨3個半數(shù)量級,。其衰減倍率（db數(shù)）按線性分布。  

1# 2# 3# 4# 5# 6#  

透過率T 0.10 0.32 0.01 0.0028 0.001 0.0004  

衰減倍率β（db） 10 14.9 20 25.5 30 34  

連續(xù)衰減器：    為方便衰減倍率的調(diào)節(jié),，使CCD工作在線性區(qū),，IV型光學暗葙內(nèi)備有連續(xù)衰減器,。它由兩片楔形中性吸收玻璃組成，當其中1片滑動時,，即改變光束通過兩光楔的總光程,，從而可連續(xù)改變衰減率，大大方便了衰減倍率的獲取,。  

導軌及標尺  

WKD-IV型的導軌裝在光學暗箱內(nèi)  

WKD-IV型的導軌在光學暗箱外,，主探測盒（光學暗箱）可在導軌上移動  

可使CCD和與其相關的衰減器等部件沿滑軌作整體移動（IV型光學暗箱中的CCD與相關部件間有聯(lián)鎖裝置；H型主探測盒整體在導軌上移動）,，從而改變探測器在光束傳播方向的位置,，可測量發(fā)散角等參數(shù)。IV型暗箱內(nèi)備有I,，II兩條滑軌,。導軌I用于標準探測模式（光束經(jīng)衰減射入光敏面）；導軌II適用于“透射像攝取”探測模式（適用于獲取大尺寸光束圖像）,、“近攝裝置”以及標準模式下需CCD移動距離較長的場合,。導軌II上裝有備用二維調(diào)節(jié)架（可放置透鏡、反射鏡等元件）及透射屏架,。  

4.電腦及打印機（選購件,，標準配置不含）  

    可選用任何可運行Windows2000/XP的臺式機。打印機用于輸出測試結果,，如使用彩色打印機以輸出彩色圖象效果更佳,。  

提示：WKD系統(tǒng)的圖像采集卡zui多可接3路圖像探測器，軟件亦可對來自不同探測器的信號方便切換,、獨立處理,，故對需要經(jīng)常在不同探測模式間切換的場合可選購“第二導軌部件：WKD-IV型光學暗箱內(nèi)已備有第二導軌，只需另購第二CCD及相關分光衰減部件,、電源,、信號線等。對WKD-IV型則需另購第二個主探測盒,。  

★可選附件――近攝裝置（選購件）：    

     本近攝裝置于拍攝近處物體,，并可得到可達1.33的放大倍數(shù)（放大倍數(shù)=像尺寸/物尺寸）。用以拍攝“光斑透射像”可以獲取并處理小光束（如幾十微米x幾十微米）的近場像,。由于這類小光斑的發(fā)散角往往較大,，光強較強，故必須保證系統(tǒng)的“物距”足夠小,，衰減部件也不能影響物距,。本近攝裝置的設計可保證滿足這些條件。（本近攝裝置使用“鏡后衰減”和鏡頭光圈雙重衰減,，從而得到大跨度,、連續(xù)的衰減）