小面積上涂層厚度的測量是個頭疼的問題,，怎么選擇小面積涂層測厚儀呢,？

我們先了解一下關于涂層厚度測量的基本知識，再逐步分析小面積上的涂層厚度的測量方式,。涂層也叫覆層，涂層覆層厚度的測量方法主要有：楔切法,，光截法,，電解法，厚度差測量法，稱重法,，X射線熒光法,，β射線反向散射法，電容法,、磁性測量法及渦流測量法等,。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣,，速度慢,，多適用于抽樣檢驗。生產(chǎn)中磁性法和渦流法是常用的涂層厚度測量方式,，估計要占到95%以上,。

X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴,，測量范圍較小,。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規(guī)范,。X射線法可測極薄鍍層,、雙鍍層、合金鍍層,。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量,。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。

申明一下,，我司（無錫君達儀器）所知道的知識也是有限的,，太深奧的關于涂層厚度的測量機理也不懂，我們只是就自己掌握的東西和大家交流,。文章謝絕復制和轉(zhuǎn)摘,！

測量涂層厚度采用磁感應原理時，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,，來測定覆層厚度,。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度,。覆層越厚,，則磁阻越大，磁通越小,。

測量涂層厚度采用電渦流原理時,，高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場，測頭靠近導體時,，就在其中形成渦流,。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大,。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小,，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。

在涂層厚度的實際測量中,，影響測量數(shù)據(jù)的度的因素有很多，比如邊緣效應,，表面粗糙度以及變形基體的磁性能電性能等,。

這里講到了邊緣效應，就關乎小面積上涂層厚度的測量了,。當工件面積很小,，比如直徑小于5毫米，那么無論是磁感應還是電渦流涂層厚度測量原理,，傳感器所發(fā)出的磁場或電渦流,，作用在基體上后，電磁場將會是不規(guī)則的,，這就給主機的計算帶來的困難,，具體表現(xiàn)為無顯示，或即使有顯示,，測試涂層厚度數(shù)據(jù)和真實涂層厚度數(shù)據(jù)差異很大,。

用戶如果自己的產(chǎn)品面積很小，用普通的測厚儀是無法測量的,，常規(guī)的涂層測厚儀要求工件面積直徑10mm以上,。因為小面積的涂層厚度的測量要求高同時市場需求很小，這就給涂層測厚儀的研發(fā)帶來了效益上的考慮,。目前,，國內(nèi)的小面積涂層厚度測量還是個薄弱環(huán)節(jié)，雖然標稱zui小可測5毫米,，但效果差強人意,。國外（德國）的有測到磁性3毫米渦流2毫米的，使用起來還可以,。國內(nèi)的如TT260配F400探頭和CNO2探頭,，探頭和主機需要較真（用戶不要動手！）國外的EPK的1100配N02探頭和F05探頭,。具體的還需要進一步交流,。

同時，正因為小面積的涂層厚度的測量基本已經(jīng)達到本身小面積涂層厚度測量的極限,，所以,，在小面積的涂層厚度的實際測試時，涂層厚度的測試精度，客戶不要太較真,。