1HCC-24  磁阻法測厚儀

1  概述 

HCC-24 磁阻法測厚儀是一種用電池供電的便攜式測量儀器,，可快速無損地測量導(dǎo)磁材料表面上非導(dǎo)磁覆蓋層厚度,。例如：鐵和鋼上的銅,、鋅,、鎘、鉻鍍層和油漆層等,。由于集成電路和微處理器的應(yīng)用,，使本儀器具有操作簡單、使用方便,、穩(wěn)定性好,、測量精度高的優(yōu)點,。儀器具有數(shù)理統(tǒng)計功能,，可直接顯示測量次數(shù)、平均值,、zui大值及zui小值,。 本儀器采用電磁感應(yīng)原理進行測量，符合標準ISO2178和國家標準GB/T4956,。當探頭與覆蓋層接觸時,，探頭和磁性基體構(gòu)成一閉合磁回路，由于非磁性覆蓋層存在,，使磁路磁阻增加,，磁阻的大小正比于覆蓋層的厚度。通過對磁阻的測量,，經(jīng)電腦進行分析處理,，由液晶顯示器直接顯示出測量值。 

2  技術(shù)參數(shù) 

1）測量范圍：0μm～1200μm,。

2）示值誤差：±((1~3)%H+1μm）H為被測涂層厚度,。

3）分辨率：1μm。

4）zui小測量面的直徑：φ10 mm,。

5）顯示：4位LCD顯示測量的次數(shù),、平均值、zui大值,、zui小值,，同時指示儀器的工作狀態(tài)及電池使用情況。

6）電源：一節(jié)6F22型9V電池,。

7）外形尺寸：160 mm×80 mm×30 mm,。

8）質(zhì)量：約250g。

9）使用環(huán)境：溫度0℃～40℃,；相對濕度不大于90%,。

3儀器外型                          

4  按鍵說明

1）“開/關(guān)”：儀器的開關(guān)鍵。

2）“統(tǒng)計RES”：數(shù)理統(tǒng)計鍵，對測量結(jié)果進行理統(tǒng)計,，并順序顯示下述數(shù)據(jù),，即測量的次數(shù)（N）、平均值（MEAN）,、zui大值（MAX）,、zui小值（MIN）。

3）“清除DEL”：從統(tǒng)計中消除當前測量值的鍵,。

4）“校正CAL”：用于校正儀器的鍵,。

5）“︿”：處在校正方式時，遞增顯示數(shù)值的鍵,；在正常測試時,，用于普通模式與連續(xù)測量模式轉(zhuǎn)換。

6）“﹀”：處在校正方式時,，遞減顯示數(shù)值的鍵,；在正常測試時，用于普通模式與連續(xù)測量模式轉(zhuǎn)換,。

5  儀器的基本使用方法

用本儀器進行測試使用起來非常簡單：首先用螺絲刀撬開儀器背面的電池盒蓋,，裝入電池。然后按“開/關(guān)”鍵開機,，儀器顯示“- - -”,，2秒鐘后顯示“0μm”，儀器便進入測量狀態(tài),。此時,，用戶只要將儀器的探頭垂直壓在被測面上（如圖1）。注意,，探頭按下時,，探頭的尾部會抬起，手不要碰到探頭的金屬部分,，以免影響保持探頭內(nèi)體自由上下活動,。保持探頭放置穩(wěn)定，儀器顯示器上會出現(xiàn)一個,。

為了保證儀器正常工作并獲得*工作狀態(tài),，請注意以下2個使用細節(jié)：

1. 在儀器開機時，使探頭遠離被測件和其它鐵磁性物體（10cm以上）,，直到儀器顯示“0μm”為止,。

2. 每次測試后，盡量上提探頭,，使其遠離被測件,，這樣會使儀器處于良好的環(huán)境適應(yīng)狀態(tài)。

83）單點校正法

有時候，受條件限制,，譬如被測體是個凹面,，無法使用很難彎曲的厚試片進行校正；或者用戶接觸到的涂層厚度局限在一個相對較小的范圍內(nèi),。此時,，只能或只需要用一個校正點。這個校正點可以是裸基體（零點）,，也可以是某個任意涂層厚度的樣品,。如果用戶的接觸到的被測件涂層厚度在某個較小范圍內(nèi)，如100μm左右,，那么這個校正點選100μm是zui合適的,。校正點定好以后就可以開始校正了，只有如下一個步驟：在儀器開機后的狀態(tài)下,，按一下“校正CAL”鍵,，用“︿”或“﹀”鍵調(diào)整儀器顯示的厚度值,，使其為“0”或與樣品的厚度值一致,。然后，將探頭直接放在裸基體上進行測試,。如果是樣品,，那么直接測試該樣品?？梢灾貜?fù)測幾次,，待儀器顯示的測試值穩(wěn)定后，按兩下“校正CAL”鍵（后一次按鍵使儀器退出校正過程）,，單點校正便完成了,。同樣，如果以后還要做同樣的單點校正,，借助儀器已經(jīng)記住的校正點厚度值,，能進一步讓用戶省去上面步驟中調(diào)整厚度的那部分操作，使用將更加便捷,。相對于上面的幾種方法,，本校正法的操作zui簡單。但代價是儀器的測試精度在遠離校正點處可能會有所降低,。用戶可以不妨試用一下本校正法,，以便判斷它能否滿足實際的測試要求。

4）任意多個校正點校正法如果用戶接觸到的被測物件形狀比較特殊,，而且涂層9厚度的范圍也比較大,，同時精度又有更高的要求，那么用戶可以自行挑選多個校正點（zui多10個）進行校正，儀器允許的校正點厚度為0 ～ 1999μm,。有一點請注意,，在實際進行校正的過程中，多個厚度執(zhí)行順序必須由小到大依次進行,。具體的操作步驟和上面的傳統(tǒng)校正法類似,，此處就不再重復(fù)了。7 儀器的其它操作說明1）通過多次測量后,，按“統(tǒng)計RES”鍵可依次顯示出測量次數(shù),、測量結(jié)果的平均值、zui大值,、zui小值,。按了“統(tǒng)計RES”鍵后，如再次測量,，儀器會清除原有的測量值,，并存儲新的測量值，并重新計算各個統(tǒng)計值,。如果在測量中,，因探頭放置不穩(wěn)，顯示出一個明顯錯誤測量值,，可按“清除DEL”鍵消除該測量值,，以免影響統(tǒng)計結(jié)果的準確性。

2）儀器使用完畢后,，按“開/關(guān)”鍵,，關(guān)閉電源。本儀器還有自動關(guān)機功能,，如不進行任何操作,，顯示屏上也沒有顯示，儀器會在大約五分鐘后自動關(guān)機,。

3）本儀器有電源狀態(tài)指示功能,，當電源電壓不足時，顯示器左上角顯示“BAT”,。此后,，儀器雖仍能工作約二小時，但建議用戶此時應(yīng)更換電池,。

4）除上述常規(guī)的工作模式外,，本儀器還有一種連續(xù)顯示模式。在常規(guī)工作模式下,按“︿”或“﹀”鍵即可進入10連續(xù)顯示模式,，這時顯示器右上角出現(xiàn)“FREE”標志,。在該狀態(tài)下,，測量值不儲存，每次測量完成后,，探頭不必提離被測物,，測量和顯示仍繼續(xù)進行。這樣,，通過探頭在被測物表面移動,，可觀察到測量值的連續(xù)變化。再次按“︿”或“﹀”鍵可退回到常規(guī)工作式這時“FREE”標志消失,。測量值的變化一般是由于涂鍍層厚度不均勻引起的,，但被測零件的表面曲率變化或邊緣效應(yīng)以及基體表面粗糙度也會造成測量值的變化。

5）測量微小零件時,，建議使用適當?shù)膴A具固定被測件（如圖3）,。標志，并顯示測試結(jié)果,。如果要再測一次,，往4上提探頭使其離開被測面，然后再按下探頭,，儀器隨后就會顯示新的測試結(jié)果,。如果被測面是弧形的，按圖2的方式,，使探頭下端的三角開叉跨在被測件上,，這樣便能穩(wěn)固地放置探頭，保證測試結(jié)果準確,。

8  顯示標志及其意義: 標志意義CAL 表示儀器工作于校正狀態(tài)BASE 應(yīng)在無涂層的裸基體進行零位校正STD 此標志出現(xiàn)時，屏上顯示的數(shù)值為校正時的標準涂層（或試片）厚度BAT 電池電壓低,，提示更換電池MEAN 平均值MAX zui大值按RES鍵前機內(nèi)儲存的系列測MIN zui小值量值的數(shù)理統(tǒng)計結(jié)果N 測量次數(shù)μm 顯示值的單位,，1μm = 0.001mm FREE 表示儀器工作在連續(xù)顯示模式耦合指示，表示探頭正在進行數(shù)據(jù)采集E 儀器測試數(shù)值過大,，超出顯示范圍OVER 表示顯示值超過儀器的顯示范圍E-1 儀器有故障：探頭斷線E-2 探頭受電磁干擾,，無法正常工作129  

儀器的日常維護

1）儀器使用完畢后，應(yīng)放入清潔,、干燥的儲存箱里,，避免沖擊和振動。

2）探頭應(yīng)避免敲擊和強烈振動并保持清潔,，被測物上的污物在測量前必須被清除,。

3）儀器長時間不用時，應(yīng)取出電池,，以免電池漏液損壞儀器,。