介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀概述
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷,、裝置瓷,、電容器等陶瓷,，還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì),，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),，可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,，為提高材料的性能提供依據(jù)；

儀器的基本原理是采用高頻諧振法,，并提供了,，通用、多用途,、多量程的阻抗測試,。

它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定,，標準頻率測試點自動設(shè)定,，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉(zhuǎn)換,，數(shù)值顯示等新技術(shù),，改進了調(diào)諧回路,，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至zui低，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù),，使得新儀器在使用時更為方便,，測量值更為。

儀器能在較高的測試頻率條件下,，測量高頻電感或諧振回路的Q值,，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值,，電工材料的高頻介質(zhì)損耗,，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等,。

介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀滿足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻,、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀多項技術(shù)：

雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描,、自動調(diào)諧搜索功能,。 

雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 

雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,，數(shù)碼化電容調(diào)諧,。 

自動化測量技術(shù) -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量,。 

全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容,、電感、 Q 值,、信號源頻率,、諧振指針。 

DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,，頻率的高,、幅度的高穩(wěn)定。 

計算機自動修正技術(shù)和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低,，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑,。 

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