高低溫試驗(yàn)箱濕熱試驗(yàn)引用標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)述

 　　標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)GB/T 2423.3《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法》,、GB/T 2423.4《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法》、GB 2423.9《電工電了產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Cb：設(shè)備用恒定濕熱試驗(yàn)方法》和GB 2423.16《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)J：長(zhǎng)霉試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定,。

　　高低溫試驗(yàn)箱濕熱試驗(yàn)引用標(biāo)準(zhǔn)如下：

　　GB/T2423.3-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法

　　GB/T2423.4-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法

　　GB/T2423.9-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Cb：設(shè)備用恒定濕熱試驗(yàn)方法

　　GB 2423.16-90 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)J：長(zhǎng)霉試驗(yàn)方法

　　GB/T5170.1-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則

　　GB 6999-86 環(huán)境試驗(yàn)用相對(duì)濕度查算表

　　高低溫試驗(yàn)箱檢定項(xiàng)目：

　　1,、溫度偏差;

　　2,、相對(duì)濕度偏差;

　　3、溫度均勻度;

　　4,、溫度波動(dòng)度;

　　5,、升降溫特性;

　　6、風(fēng)速,。

　　高低溫試驗(yàn)箱濕熱試驗(yàn)引用標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)述