老化（Burn in）是指采用高溫方法對(duì)產(chǎn)品施加環(huán)境應(yīng)力,，而環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS：Environment Stress Screen ）則不僅包括高溫應(yīng)力,，還包括其他很多應(yīng)力,，例如溫度循環(huán),、隨機(jī)振動(dòng)等,，如圖所示,。所以,，老化是屬于環(huán)境應(yīng)力篩選的一種。但現(xiàn)在很多公司已經(jīng)把“老化”這個(gè)詞的意義擴(kuò)展了,，老化就等同環(huán)境應(yīng)力篩選,，環(huán)境應(yīng)力篩選俗稱(chēng)為老化，我們就沿用“老化”這個(gè)詞,。

在電子產(chǎn)品在加工過(guò)程中,，由于經(jīng)歷了復(fù)雜的加工和元器件物料的大量使用，將引入各種缺陷（即便設(shè)計(jì)再好的產(chǎn)品亦如此）,。無(wú)論是加工缺陷還是元器件缺陷,，都可分為明顯缺陷和潛在缺陷，明顯缺陷指那些導(dǎo)致產(chǎn)品不能正常工作的缺陷,，例如短路/斷路,。而潛在缺陷導(dǎo)致產(chǎn)品暫時(shí)可以使用，但在使用中缺陷會(huì)很快暴露出來(lái),，產(chǎn)品不能正常工作,，例如焊錫不足，產(chǎn)品雖然可以用,，但輕微振動(dòng)可能就會(huì)使焊點(diǎn)斷路,。明顯缺陷可通過(guò)常規(guī)檢驗(yàn)手段（即ICT:在線測(cè)試，In-Circuit Test,，是通過(guò)對(duì)在線元器件（制成板上的元器件）的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段,。它主要檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況,，具有操作簡(jiǎn)單,、快捷迅速,、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)、FT等）加以發(fā)現(xiàn),。潛在缺陷則無(wú)法用常規(guī)檢驗(yàn)手段發(fā)現(xiàn),，而是運(yùn)用老化的方法來(lái)剔除。如果老化方法效果不好,，則未被剔除的潛在缺陷將zui終在產(chǎn)品運(yùn)行期間以早期失效（或故障）的形式表現(xiàn)出來(lái),，從而導(dǎo)致產(chǎn)品返修率上升，維修成本增加,。

其實(shí),，老化目的還有一個(gè)更重要的目的（和測(cè)試一樣）：通過(guò)老化使產(chǎn)品加工工藝不斷改進(jìn)，使元器件品質(zhì)不斷改進(jìn),，改進(jìn)到不需要老化為止,。電路板在老化以后一定要經(jīng)過(guò)測(cè)試，假如在測(cè)試中發(fā)現(xiàn)某個(gè)元器件經(jīng)常損壞,，則說(shuō)明該器件有潛在缺陷,，需要供應(yīng)商改進(jìn)品質(zhì)。