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1. 目的:
本試驗(yàn)為確認(rèn)和監(jiān)督產(chǎn)品于量產(chǎn)階段的可靠度仍符合設(shè)計(jì)要求.
2. 適用范圍：
本程序適用于公司量產(chǎn)階段生產(chǎn)的產(chǎn)品。
3. 名詞釋義:
ORT(On Going Reliability Test):持續(xù)可靠度測(cè)試
4. 支持文件：
4. 1 可靠性試驗(yàn)規(guī)范 （ W-MQ0813 ）
4. 2 例行可靠性測(cè)試規(guī)范 （ W-MQ0814 ）
5. 權(quán)責(zé):
5.1 研發(fā)和工程單位負(fù)責(zé)對(duì)新產(chǎn)品的開發(fā),設(shè)計(jì),改良,。
5.2 品管在量產(chǎn)制令批中和外購電源進(jìn)料批中取樣5pcs樣品至QA,。
5.3 QA執(zhí)行產(chǎn)品ORT驗(yàn)證.
5.4儀器設(shè)備,測(cè)試方法及不良分析由工程,制造單位進(jìn)行協(xié)助,。
6. 程序:
6.1 品管IPQC依據(jù)DIP制造生產(chǎn)制令按批號(hào)抽取5PCS EASM半成品樣品至QA
品管IQC依據(jù)外購電源或Adapter進(jìn)料批抽取5PCS樣品至QA
6.2 QA依據(jù)產(chǎn)品填寫樣品紀(jì)錄于ORT測(cè)試記錄表(F-MQ0861)
6.3 QA依ORT測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試條件執(zhí)行ORT測(cè)試,。
6.4 測(cè)試過程發(fā)現(xiàn)問題后知會(huì)工程及相關(guān)部門進(jìn)行問題改善.
6.5 測(cè)試OK后知會(huì)品管,測(cè)試結(jié)案.
6.6 產(chǎn)品測(cè)試項(xiàng)目,數(shù)量,條件,方法及判定如下:
| 測(cè)試項(xiàng)目 | 數(shù)目 | 測(cè)試 目的 | 測(cè)試 儀設(shè) | 測(cè)試條件及方法 | 判定 |
| A-1 開關(guān)機(jī)測(cè)試 | 2pcs | 確認(rèn)待測(cè)物在規(guī)定使用下開關(guān)機(jī)能正常操作. | 可調(diào)變壓器 網(wǎng)絡(luò)線 | 輸入電壓: Switch Power:90Vac&255Vac Adapter:110Vac或220Vac 測(cè)試溫度:25℃ 1. 將待測(cè)物各port短接 2. 待測(cè)物通電ok后斷掉輸入電源.5秒一個(gè)循環(huán).開關(guān)機(jī)30次. 3. 改變輸入電壓重復(fù)第2步驟. | 待測(cè)物測(cè)試過程中LED顯示正常 |
| A-2 高溫?zé)龣C(jī)測(cè)試 | 1pcs | 檢測(cè)待測(cè)物在不同溫度&濕度環(huán)境是否能正常工作. | 可調(diào)變壓器 Microtest 網(wǎng)絡(luò)線 恒溫恒濕箱 | 測(cè)試溫度:50℃ 輸入電壓: Switch Power:90Vac&255Vac Adapter:110Vac或220Vac 測(cè)試周期:高溫環(huán)境4小時(shí) 1.待測(cè)物放于高溫實(shí)現(xiàn)室,輸入電壓90Vac . 2.Microtest各 Port連接至待測(cè)物,傳輸zui高模式Random封包 3. 循環(huán)結(jié)束后紀(jì)錄測(cè)試數(shù)據(jù) 4.更換輸入電壓為255Vac重復(fù)第2,3步驟 | 1. 確認(rèn)待測(cè)物沒有當(dāng)機(jī),且其傳送封包狀況無Failure 2. 確認(rèn)測(cè)試后注意銘版及貼紙是否會(huì)有翹起之 現(xiàn)象 |
| A-3 冷開機(jī)測(cè)試 | 2pcs | 測(cè)試待測(cè)物置于低溫環(huán)境下一段時(shí)間后開機(jī)是否能動(dòng)作正常啟動(dòng) | 可調(diào)變壓器 Smartbits 2000 網(wǎng)絡(luò)線 恒溫恒濕箱 | 輸入電壓: Switch Power:90Vac&255Vac Adapter:110Vac或220Vac 1. 將 Smartbits 2000Port連 接至待測(cè)物.待測(cè)物斷電. 2. 在-5℃下冷藏半小時(shí).然后 接通電源 3. 傳輸zui高模式Random封 包3.000,000筆. | 確認(rèn)待測(cè)物沒有當(dāng)機(jī),且其傳送封包狀況無異常和丟包現(xiàn)象 |
| A-4 振動(dòng)測(cè)試 | 5pcs | 測(cè)試當(dāng)待測(cè)物在經(jīng)強(qiáng)烈振動(dòng)后是否有發(fā)生零組件脫落,松動(dòng)或機(jī)器故障 | 振動(dòng)模擬機(jī): LD-L & LD-HL Smartbits 2000 | 測(cè)試溫度:25℃ 1. 啟動(dòng)電源先校正振動(dòng)模擬機(jī)至5檔. 2. 校正結(jié)束后將待測(cè)物放至振動(dòng)模擬機(jī)上并固定 3. 測(cè)試時(shí)間:各30分鐘 4. 待振動(dòng)測(cè)試結(jié)束后打開待測(cè)物上蓋檢查內(nèi)部是否有零件松動(dòng).在用Smartbits 2000對(duì)傳zui高模式滿載的封包并紀(jì)錄測(cè)試結(jié)果 | 確認(rèn)待測(cè)物內(nèi)部是否有零件松脫,松動(dòng)并且傳送封包必須沒有Packet loss |
| A-5 溫升測(cè)試 | 1pcs | 確認(rèn)待測(cè)物的各元器件在常溫滿載工作時(shí)的溫度 | 溫升儀 網(wǎng)絡(luò)線 | 輸入電壓: Switch& Power:90Vac&255Vac 測(cè)試溫度:常溫（QA辦公室測(cè)試） 1. 將待測(cè)物各port短接 2. 將溫升儀與待測(cè)物的主要發(fā)熱組件相接,，并接通電源。工作正常后記錄溫度變化,。 3. 記錄各點(diǎn)的溫度變化,，直到穩(wěn)定為止。 | 待測(cè)物測(cè)試過程中,，待測(cè)物工作正常,，并且各主要元器件的zui后穩(wěn)定溫度在相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)。 |
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