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供應(yīng)涂層測(cè)厚儀

來(lái)源:北京金泰科儀檢測(cè)儀器有限公司   2013年12月28日 14:08  

   一,、磁吸引力測(cè)量原理及涂層測(cè)厚儀
   探頭與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處在這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系,。這個(gè)距離就是涂層的厚度。根據(jù)這一原理制成涂層測(cè)厚儀,只要涂層與基體的導(dǎo)磁率之間足夠大,就可進(jìn)行涂層測(cè)量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型,所以磁性測(cè)厚儀應(yīng)用廣,。涂層測(cè)厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼,接力簧,,標(biāo)尺及自動(dòng)停機(jī)構(gòu)組成,。磁鋼與被測(cè)物吸合后,將測(cè)量簧在其后逐漸拉長(zhǎng),,拉力逐漸增大,。當(dāng)拉力剛好大于吸引力,磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得涂層厚度,。這種儀器的特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便,、堅(jiān)固耐用、不用電源,,測(cè)量前無(wú)須校準(zhǔn),,價(jià)格比較低,很適合車間做現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制,。
    二,、磁感應(yīng)法測(cè)量涂層的原理 
   采用磁感應(yīng)原理測(cè)量涂層時(shí),利用探頭經(jīng)過(guò)非鐵磁涂層而流入鐵磁基體的磁通的大小,,來(lái)測(cè)定涂層厚度,。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻大小,來(lái)表示其涂層覆層厚度,。涂層越厚,則磁阻越大,,磁通越小,。利用磁感應(yīng)的涂層測(cè)厚儀,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁涂層厚度,。一般要求基體導(dǎo)磁率在500以上,。如果涂層材料也有磁性,則要求與基體的導(dǎo)磁率之間的差足夠大(如鋼上鍍鎳),。當(dāng)軟芯上繞著線圈的探頭放在被測(cè)樣片上時(shí),,涂層測(cè)厚儀自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,,測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小,,涂層測(cè)厚儀將該信號(hào)放大后來(lái)指示涂層厚度。近幾年來(lái)采用了專業(yè)設(shè)計(jì)的集成電路,,引入單片微機(jī),,增加*的工具,,使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高。磁性原理涂層測(cè)厚儀可應(yīng)用來(lái)測(cè)量鋼鐵表面的油漆層,,瓷,、搪瓷防護(hù)層,塑料,、橡膠涂層,,以及化工石油業(yè)的各種防腐涂層的厚度。
    三,、電渦流測(cè)量原理   
   高頻交流信號(hào)在探頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng),,探頭靠近導(dǎo)體時(shí),就在其中形成渦流,。探頭離導(dǎo)電基體愈近,,則渦流愈大,反射阻抗也愈大,。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁颂筋^與導(dǎo)電基體之間距離的大小,,也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電涂層厚度的大小。由于這類涂層測(cè)厚儀探頭專門測(cè)量非鐵磁金屬基體上的涂層厚度,,所以通常稱為非磁性探頭,。非磁性探頭采用高頻材料做線圈芯。與磁感應(yīng)原理比較,,主要區(qū)別是涂層測(cè)厚儀探頭不同,,信號(hào)頻率不同,信號(hào)的大小,、標(biāo)度關(guān)系不同,。采用電渦流原理的涂層測(cè)厚儀,原則上對(duì)所有導(dǎo)電基體上的非導(dǎo)電涂層均可測(cè)量,,如航天航空器表面,、車輛、家電,、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,,塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。涂層材料有一定的導(dǎo)電性,,通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量,,但要求兩者導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)體,,但這類任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量涂層厚度較為合適,。
      涂層測(cè)厚儀影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量的若干因素。磁性法測(cè)量厚度受基體金屬性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,,低碳鋼磁性的變化可認(rèn)為是輕微的),,為了避免熱處理和冷加工因素的影響,,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成份及熱處理方法有關(guān),。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);每一種儀器都有一個(gè)臨界厚度,,大于這個(gè)厚度,,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響;對(duì)試件表面形狀的陡變敏感,,因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的,;試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響,隨著曲率半徑的減少明顯地增大,,因此,,在彎曲試件的表面上測(cè)量也是不可靠的;探頭會(huì)使軟涂層試件變形,,因此在這些試件上測(cè)不出可靠的數(shù)據(jù),;基體金屬和涂層的表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大,,影響增大,,粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測(cè)量時(shí),,在不同的位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù),,以克服這種偶然誤差。如果基體上基體金屬粗糙,,還必須在未涂的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn),,或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解去除涂層后,再校對(duì)儀器的零點(diǎn),;周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng),,會(huì)嚴(yán)重干擾磁性測(cè)厚工作;那些妨礙探頭與涂層表面緊密接觸的附著物質(zhì),,必須清除,在測(cè)量中,,要保持壓力恒定,,探頭與試件表面保持垂直,涂層測(cè)厚儀才能達(dá)到的測(cè)量,。

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