簡介:
涂層測厚儀又稱為覆層測厚儀,,可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻,、銅,、琺瑯、橡膠,、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅,、鋁、鋅,、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如:琺瑯,、橡膠、油漆,、塑料等),。
涂層測厚儀根據(jù)測量原理一般有磁性測厚法、渦流測厚法,、超聲波測厚法、電解測厚法,、放射測厚法五種類型,。目前國內(nèi)使用zui為普遍的是前兩種方法。涂層測厚儀是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測儀器,,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè),、金屬加工業(yè)、化工業(yè),、商檢等檢測領(lǐng)域,。
磁性測厚原理:當(dāng)測頭與覆層接觸時,測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路,,由于非磁性覆蓋層的存在,,使磁路磁阻變化,通過測量其變化可計算覆蓋層的厚度,。
渦流測厚原理:利用高頻交電流在線圈中產(chǎn)生一個電磁場,,當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時,金屬基體上產(chǎn)生電渦流,,并對測頭中的線圈產(chǎn)生反饋作用,,通過測量反饋作用的大小可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。
磁性涂層測厚儀,,適用于導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測量,,導(dǎo)磁材料一般為:鋼/鐵/銀/鎳,此種方法測量精度高,。渦流測厚儀就是非磁性涂層測厚儀,,適用于導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測量。此種方法較磁性測厚法精度低,,客戶可以根據(jù)自己的測量需求來選擇,。
一,、測厚儀主要是利用電磁場在不同厚度的介質(zhì)上的磁場強(qiáng)度的改變,而計算出其厚度值,。因此,,任何對磁場強(qiáng)度的影響都會直接導(dǎo)致測量誤差,具體情況有以下幾種:
1,、被測材料自身含磁
有些材料在加工過程中或一定工藝要求,,使被測材料內(nèi)有剩余磁場。由于其分布不均,,所以導(dǎo)致的測量誤差也不一致,,會出現(xiàn)在同一工件上某些部位的測量值突然變大或變小。
2,、被測材料結(jié)構(gòu)不同,,形狀不同
在不同結(jié)構(gòu)的工件上,磁場分布會隨著結(jié)構(gòu),、形狀不同而不同,,會產(chǎn)生測量誤差。
3,、同一材料的不同部位,,也可能產(chǎn)生磁場的變化,如材料的邊緣與中間區(qū)域,,其磁場分布不一樣,,會產(chǎn)生測量誤差。
4,、被測材料的性質(zhì)不同,,其磁通量就會不同,這也是產(chǎn)生誤差原因之一,。
二,、為避免因操作而引起的誤差,涂層測厚儀在使用時,,應(yīng)遵循以下原則:
1,、在同一點重復(fù)測量時,每次將探頭離開10cm以上,,間隔幾秒鐘后再測,,避免被測材料因探頭磁化后,影響下次測量結(jié)果,;
2,、使用時,平面調(diào)零測平面,,凸面調(diào)零測凸面,,凹面調(diào)零測凹面,,避免因結(jié)構(gòu)不同而產(chǎn)生測量誤差;
3,、盡量使用被測材料作為調(diào)零基體,,避免因不同材料的導(dǎo)磁性不同,而出現(xiàn)測量誤差,;
4,、盡量在被測材料的同一部位調(diào)零后,再測相同部位,。例如,,在工件邊緣和中間部位應(yīng)分別調(diào)零;
5,、做調(diào)零用的表面,,要盡量光滑;被測材料表面的粗糙度對測量數(shù)值影響很大,,假如表面不光滑,,應(yīng)視情況取平均值;
6,、測量時,,探頭要保持與被測料面垂直,,否則會產(chǎn)生較大誤差,。
7、邊緣效應(yīng),,不應(yīng)在緊靠試件的突變處,,如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測量,。
8,、曲率,不應(yīng)在試件的彎曲表面上測量,。
9,、表面清潔度,測量前,,應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì),,如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì),。磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),,為了避免熱處理和冷加工因素的影響,,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn),;亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
10,、讀數(shù)次數(shù),,通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同,因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù),。覆蓋層厚度的局部差異,,也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測量,表面粗造時更應(yīng)如此,。
影響涂層測厚儀測量值精度的因素
1,、基體金屬磁性質(zhì):磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),,為了避免熱處理和冷加工因素的影響,,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn),。
2,、基體金屬厚度:每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度,,測量就不受基體金屬厚度的影響,。
3、基體金屬電性質(zhì):基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響,,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān),。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
4,、邊緣效應(yīng),,涂層測厚儀對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的,。
5,、曲率:試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大,。因此,,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
6,、試件的變形:測頭會使軟覆蓋層試件變形,,因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。
7,、表面粗糙度:基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響,。粗糙程度增大,影響增大,。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,,每次測量時,,在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù),以克服這種偶然誤差,。如果基體金屬粗糙,,還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,,再校對儀器的零點,。
8、附著物質(zhì):涂層測厚儀對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,,因此,,必須清除附著物質(zhì),以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸,。
9,、涂層測厚儀測頭的取向:測頭的放置方式對測量有影響。在測量中,,應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直,。
10、測頭壓力:測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù),,因此,,要保持壓力恒定。
11,、磁場:周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場,,會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。
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