綜觀科學(xué)上的重大發(fā)現(xiàn),，往往是由于新的觀測手段的發(fā)明而開展起來的,。以物理學(xué)諾貝爾獎(jiǎng)金獲得者為例,，百分之五十的工作是得益于新的儀器或測試手段的發(fā)明創(chuàng)造,。儀器儀表也是實(shí)現(xiàn)信息的獲取,、轉(zhuǎn)換,、存貯,、處理和揭示物質(zhì)運(yùn)動的*工具,，儀器儀表裝備水平在很大程度上反映出一個(gè)國家的生產(chǎn)力發(fā)展和現(xiàn)代化水平,。

　　一、儀器儀表發(fā)展概況50年代初期,，儀器儀表取得了重大突破,，數(shù)字技術(shù)的出現(xiàn)使各種數(shù)字儀器得以問世，把模擬儀器的精度,、分辨力與測量速度提高了幾個(gè)量級,，為實(shí)現(xiàn)測試自動化打下了良好的基礎(chǔ)。

　　60年代中期,，測量技術(shù)又一次取得了進(jìn)展,，計(jì)算機(jī)的引入，使儀器的功能發(fā)生了質(zhì)的變化,，從個(gè)別電量的測量轉(zhuǎn)變成測量整個(gè)系統(tǒng)的特征參數(shù),，從單純的接收、顯示轉(zhuǎn)變?yōu)榭刂啤⒎治?、處理,、?jì)算與顯示輸出，從用單個(gè)儀器進(jìn)行測量轉(zhuǎn)變成用測量系統(tǒng)進(jìn)行測量,。

　　70年代,，計(jì)算機(jī)技術(shù)在儀器儀表中的進(jìn)一步滲透，使電子儀器在傳統(tǒng)的時(shí)域與頻域之外,，又出現(xiàn)了數(shù)據(jù)域（Datadomain）測試,。

　　80年代，由于微處理器被用到儀器中,，儀器前面板開始朝鍵盤化方向發(fā)展,，過去直觀的用于調(diào)節(jié)時(shí)基或幅度的旋轉(zhuǎn)度盤，選擇電壓電流等量程或功能的滑動開關(guān),，通,、斷開關(guān)鍵已經(jīng)消失。測量系統(tǒng)的主要模式,，是采用機(jī)柜形式,，全部通過IEEE-488總線送到一個(gè)控制器上。測試時(shí),，可用豐富的BASIC語言程序來高速測試,。不同于傳統(tǒng)獨(dú)立儀器模式的個(gè)人儀器（Personalinstrument）已經(jīng)得到了發(fā)展。

　　90年代,，儀器儀表與測量科學(xué)進(jìn)一步取得重大的突破性進(jìn)展,。這個(gè)進(jìn)展的主要標(biāo)志是儀器儀表智能化程度的提高。突出表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面,。

　　1.微電子技術(shù)的進(jìn)步將更深刻地影響儀器儀表的設(shè)計(jì),；2.DSP芯片的大量問世，使儀器儀表數(shù)字信號處理功能大大加強(qiáng),；3.微型機(jī)的發(fā)展,，使儀器儀表具有更強(qiáng)的數(shù)據(jù)處理能力；4.圖像處理功能的增加十分普遍,；5.VXI總線得到廣泛的應(yīng)用,。

　　二、國外儀器儀表發(fā)展特點(diǎn)

　　1.新技術(shù)的應(yīng)用

　　目前普遍采用EDA（電子設(shè)計(jì)自動化）,、CAM（計(jì)算機(jī)輔助制造）,、CAT（計(jì)算機(jī)輔助測試）、DSP（數(shù)字信號處理）,、ASIC（集成電路）及SMT（表面貼裝技術(shù)）等,。

　　2.產(chǎn)品結(jié)構(gòu)變化

　　注重性能價(jià)格比,。在重視儀器開發(fā)的同時(shí),，注重*和量大面廣產(chǎn)品的開發(fā)與生產(chǎn),。

　　注重系統(tǒng)集成，不僅著眼于單機(jī),，更注重系統(tǒng),、產(chǎn)品軟化，隨著各類儀器裝上了CPU,，實(shí)現(xiàn)了數(shù)字化后,，軟件上投入了巨大的人力、財(cái)力,。今后的儀器歸納成一個(gè)簡單的公式：儀器=AD/DA+CPU+軟件,，AD芯片將模擬信號變成數(shù)字信號，再經(jīng)過軟件處理變換后用DA輸出,。