脈沖式線圈測試儀（即數(shù)字式匝間儀）可的,、非破壞

性的對有線圈繞組的部件進(jìn)行電氣試驗。其原理是對標(biāo)準(zhǔn)線圈繞組和被測試?yán)@組施加相同的脈沖電壓,，比較兩者的瞬態(tài)波形,，以測試被測線圈的品質(zhì)。瞬態(tài)波形也就是線圈內(nèi)發(fā)生的衰減振

蕩的波形,，他可同時判斷該繞組的電感,、品質(zhì)因素、繞組的圈數(shù)差及匝間短路情況，在有鐵芯的情況下,，還可以判斷其材質(zhì)的差別等,。在施加高壓脈沖的情況下，電暈放電的發(fā)生還可以

對絕緣不良進(jìn)行判斷,?？傊瑯?biāo)志線圈品質(zhì)的各個要素,，可以在極短時間內(nèi)檢查完成,。

脈沖式線圈測試儀，采用技術(shù)的高穩(wěn)定性高壓沖擊電源,，大幅提高了儀器測試準(zhǔn)確度,。儀器通過微型計算機(jī)技術(shù)把波形的各種參數(shù)量化處理,，再用直觀的波形進(jìn)行顯示和判斷,，操作簡單，判斷準(zhǔn)確,，自動化程度高,。該儀器體積小，重量輕,，便于攜帶,。沖擊波形實(shí)例：

圖1.1-1線圈衰減振蕩波形分析

???采用技術(shù)的高穩(wěn)定性高壓沖擊電源和可控硅模塊控制的高壓開關(guān)器件，大幅度提高了產(chǎn)品的穩(wěn)定性,、可靠性,。（*避免了*代模擬產(chǎn)品“充氣氫閘管”、“示波管”等造成的穩(wěn)定性差,，開機(jī)預(yù)熱時間長,，壽命短，易老化等問題,。）

采用先進(jìn)的數(shù)字信號處理技術(shù),，四種波形比較方法快速判斷線圈品質(zhì)，LCM液晶模塊顯示,，人性化操作界面,，簡單易學(xué)，比較結(jié)果直接顯示,，并有多種聲響報警方式可選擇,，體積小，重量輕

工作原理

脈沖式線圈測試儀以MCU中央信息處理系統(tǒng)為核心,，由它控制高壓脈沖發(fā)生器對線圈施加一次極短時間的高壓脈沖,，線圈在脈沖作用下產(chǎn)生自由衰減振蕩,其瞬態(tài)波形的模擬信號經(jīng)由CPLD可編程邏輯器件控制的高速A/D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號,然后反饋至MCU中央信息處理系統(tǒng)進(jìn)行時間、電暈量、面積,、相位等參數(shù)的運(yùn)算,，處理結(jié)果保存在MCU信息處理系統(tǒng)的電子存

儲器中，并用直觀易懂的文字,、數(shù)據(jù)_________及圖形顯示在240×320點(diǎn)陣液晶模塊LCM上,，從而保證了波形重現(xiàn)的真實(shí)性。并且根據(jù)用戶設(shè)定的條件,對合格或不合格者進(jìn)行報警處理,。

線圈質(zhì)量檢查判斷方法

圖1.3.2_1：波形面積比較

在任意的區(qū)間內(nèi),，對標(biāo)準(zhǔn)線圈和被測線圈波形面積進(jìn)行比較。

如圖1.3.2_1所示,，計算出A-B區(qū)間內(nèi)的面積,，判定兩者面積相差的程度。判定的標(biāo)準(zhǔn)用百分比（％）進(jìn)行設(shè)定,，計算結(jié)果在范圍內(nèi)的為合格品,。區(qū)間內(nèi)面積的大小，大體與線圈內(nèi)能量損耗成比例,，故能以此判斷能量損耗的大小,。

例如被測線圈有匝間短路時，短路部分的反映是能量的損失增大,。

圖1.3.2_3：波形電暈量比較

在任意的區(qū)間內(nèi),，對被測線圈的電暈放電量與設(shè)定值進(jìn)行比較。

如圖1.3.2_3所示,，基本忽略波形差異,，在任意的A-B區(qū)間內(nèi)，僅在被測線圈實(shí)測波形包含的電暈放電尖峰中檢出高頻成分進(jìn)行面積（積分）計算,，并將計算結(jié)果與設(shè)定值進(jìn)行比較,，判定電暈放電量是否合格?？梢哉J(rèn)為該量是模擬方式中檢出的通過高頻濾波器的量值,。

圖1.3.2_2：波形面積差比較

在任意區(qū)間內(nèi)，對標(biāo)準(zhǔn)線圈和被測線圈波形偏差部分的面積與標(biāo)準(zhǔn)線圈波形面積進(jìn)行比較,。

如圖1.3.2_2 所示,，計算出A-B 區(qū)間內(nèi)面積差，對比標(biāo)準(zhǔn)波形（同圖1.3.2_1）判定偏差的程度,。

判定的標(biāo)準(zhǔn)用百分比（％）進(jìn)行設(shè)定,，結(jié)果在范圍內(nèi)的為合格品。波形偏差面積的大小表示電感值及能量損耗程度的總和,。此方法可較全面地檢查線圈的電感L值及能量損失,。

圖1.3.2_4：波形相位比較

對標(biāo)準(zhǔn)線圈和被測線圈的波形相位相應(yīng)過零點(diǎn)（A,、B）的差值與設(shè)定值進(jìn)行比較。

如圖1.3.2_4 所示,，以的標(biāo)準(zhǔn)波形的過零點(diǎn)A 為基礎(chǔ),，與被測線圈實(shí)測波形相應(yīng)的過零點(diǎn)B相差的點(diǎn)數(shù)作為判定依據(jù)，并將計算結(jié)果與設(shè)定值進(jìn)行比較,，判定波形相位是否合格,。由于波形相位與線圈的電感L密切相關(guān)，此方法可偏重于檢查線圈的電感L值,。
脈沖式匝間絕緣耐壓測試儀,、數(shù)字式匝間測試儀