便攜式四探針電阻率測(cè)試儀 四探針電阻率測(cè)試儀 四探針電阻率檢測(cè)儀 四探針電阻率測(cè)定儀
便攜式四探針電阻率測(cè)試儀 四探針電阻率測(cè)試儀 四探針電阻率檢測(cè)儀
四探針電阻率測(cè)定儀 型號(hào):DP-KDY-1A
便攜式四探針電阻率測(cè)試儀 四探針電阻率測(cè)試儀概述
便攜式電阻測(cè)度儀是用來測(cè)量硅晶塊,、晶片電阻率及擴(kuò)散層,、外延層,、ITO導(dǎo)電箔膜,、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器,。
本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的及家標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法有關(guān)規(guī)定,。
它主要由電器測(cè)量份(主機(jī))及四探頭組成,需要時(shí)可加配測(cè)試架,。
為減小體積,,本儀器用同塊數(shù)字表測(cè)量電流及阻率。樣品測(cè)試電流由寬的恒流源提供,,隨時(shí)可行校準(zhǔn),,以確保電阻率測(cè)量的準(zhǔn)確度,。因此本儀器不僅可以用來分材料也可以用來作產(chǎn)品檢測(cè)。對(duì)1~100Ω•cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測(cè)量瓿差不過±3%,,在此范圍內(nèi)達(dá)到家標(biāo)準(zhǔn)機(jī)的水平,。
便攜式四探針電阻率測(cè)試儀 四探針電阻率測(cè)試儀測(cè)量范圍:
可測(cè)量 電阻率:0.01~199.9Ω•cm。
可測(cè)方塊電阻:0.1~1999Ω/口
當(dāng)被測(cè)材料電阻率≥200Ω•cm數(shù)字表顯示0.00,。
(2)恒流源:
輸出電流:DC 0.1mA~10mA分兩檔
10mA量程:0.1~1mA 連續(xù)可調(diào)
10mA量程:1mA ~10mA連續(xù)可調(diào)
恒流度:各檔均優(yōu)于±0.1%
適合測(cè)量各種厚度的硅片
(3) 直流數(shù)字電壓表
測(cè)量范圍:0~199.9mv
靈敏度:100μv
準(zhǔn)確度:0.2%(±2個(gè)字)
(4) 供電電源:
AC:220V ±10% 50/60HZ 率8W
(5) 使用環(huán)境:
相對(duì)濕度≤80%
(6) 重量,、體積
重量:2.2 公斤
體積:寬210×100×深240(mm)
(7)KD探針頭
壓痕直徑:30/50μm
間距:1.00mm
探針合力:8±1N
針材:TC
相關(guān)產(chǎn)品
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