聲波探傷儀主要由聲波探頭及其附屬部件組成,，評(píng)判調(diào)整聲波探傷儀的性能,，一般采用標(biāo)準(zhǔn)試塊。聲波探頭又稱壓電聲換能器,，是實(shí)現(xiàn)電——聲能量相互轉(zhuǎn)換的能量轉(zhuǎn)換器件,。

1．探頭的種類

⑴直探頭：聲束垂直于被探工件表面入射的探頭稱為直探頭。它可發(fā)射和接收縱波。由壓電

元件,、吸收塊,、保護(hù)膜和殼體等組成。

⑵斜探頭：利用透聲斜楔塊使聲束傾斜于工件表面入射工件的探頭稱為斜探頭,。它可發(fā)射和

接收橫波,。

典型的斜探頭結(jié)構(gòu)如表所示，它由探頭,、斜楔塊,、吸收塊和殼體等組成。探頭與直探頭相似,，也是由電壓元件和吸收塊組成,。斜楔塊用有機(jī)玻璃制作，它與工件組成固定傾斜的異質(zhì)界面,，使探頭中壓電元件發(fā)射的縱波通過波型轉(zhuǎn)換,，以折射橫波在工件中傳播。通常橫波斜探頭以鋼中折射角標(biāo)稱：有γ=40°,、45°,、50°、60°,、70°等幾種,；有時(shí)也以折射角的正切值標(biāo)稱：k=tgγ=1.0、1.5,、2.0,、2.5、3.0,。  

⑶水浸聚焦探頭：一種由聲探頭和聲透鏡組合而成的探頭,。聲透鏡由環(huán)氧樹脂澆鑄成球形或圓柱形凹透鏡，類似光學(xué)透鏡能使光線聚焦一樣,，它可使聲波束集聚成一點(diǎn)或一條線,。由于聚焦探頭的聲束變細(xì)，聲能集中,，從而大幅度改善了聲波的指向性,，提高了靈敏度和分辨力。

⑷雙晶探頭：為了彌補(bǔ)普通直探頭探測近表面缺陷時(shí)存在著盲區(qū)大,、分辨力低的缺點(diǎn)而設(shè)計(jì)的探頭,。探頭內(nèi)含兩個(gè)壓電元件，分別是發(fā)射晶片和接收晶片,，中間用隔聲層分開,。雙晶探頭又稱為分割式TR探頭,，主要用于探測近表面缺陷和薄工件的測厚,。

2．探頭的主要參數(shù)

探頭性能的好壞,，直接影響著探傷結(jié)果的可靠性和準(zhǔn)確性。因此,，對(duì)探頭性能的有關(guān)指標(biāo),，規(guī)定了基本的要求，生產(chǎn)中需定期測試以探傷質(zhì)量,。焊縫聲波探傷常用斜探頭,。斜探頭的主要性能參數(shù)如下：

⑴折射角γ或k值：γ或K值大小決定了聲束入射工件的方向和聲波傳播途徑，是為缺陷定位計(jì)算提供的一個(gè)有用數(shù)據(jù),，因此探頭使用磨損后均需測量γ或k值,。

⑵前沿長度：聲束入射點(diǎn)至探頭前端面的距離稱為前沿長度，又稱為接近長度,。它反映了探頭對(duì)有余高的焊縫接近的程度,。入射點(diǎn)是探頭聲束軸線與楔塊底面的交點(diǎn)。探頭在使用前和使用過程中要經(jīng)常要測定入射點(diǎn)位置,，以便對(duì)缺陷進(jìn)行準(zhǔn)確定位,。

⑶聲軸偏離角：它反映了主聲束中心軸線與晶片中心法線的重合程度。聲軸偏離角除直接影響缺陷定位和指示長度的測量精度外,，還會(huì)導(dǎo)致探傷者對(duì)缺陷方向產(chǎn)生誤判,，從而影響對(duì)探傷結(jié)果的分析。

3．探頭型號(hào):

探頭型號(hào)由五部分組成,，用一組數(shù)字和字母表示,。

探頭特征：

⑴ 探頭基本頻率：單位為MHz。

⑵ 壓電晶片材料：常用的壓電晶片材料及其代號(hào)見表所示,。

⑶ 壓電晶片尺寸：單位為mm,。圓形晶片為晶片直徑；方形晶片長度×寬度,，分割探頭晶片為分割前的尺寸,。

⑷ 探頭種類：用漢語拼音縮寫字母表示，見表所示,。

常用壓電晶片材料和探頭的代號(hào)

 ⑸ 探頭特征：斜探頭用K值或γ表示,，單位為度；分割探頭為被探