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紅外熱成像儀對(duì)電路板的檢測(cè)分析

來(lái)源:深圳銓博科技有限公司   2013年05月23日 08:40  

 

 

紅外熱像儀E40利用光學(xué)成像鏡頭,、紅外探測(cè)器接受被測(cè)目標(biāo)的紅外輻射能量,,并將紅外輻射能量轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)視頻信號(hào),,通過(guò)顯視屏顯示紅外熱像圖。這種熱像圖與物體表面的熱分布場(chǎng)相對(duì)應(yīng),,是被測(cè)目標(biāo)物體各部分紅外輻射的熱像分布圖,。紅外熱像儀E系列能夠?qū)⑻綔y(cè)到的熱量量化,能夠?qū)Πl(fā)熱的故障區(qū)域進(jìn)行準(zhǔn)確識(shí)別和嚴(yán)格分析,,因此,,紅外熱像儀能夠非接觸準(zhǔn)確測(cè)溫,并能夠?qū)崟r(shí)顯示熱場(chǎng)分布的特點(diǎn)使得其成為電路板檢測(cè)等無(wú)損探傷的*工具,。

隨著電路板制造工藝的發(fā)展,,其上電子元器件的集成度是越來(lái)越高,電路越來(lái)越復(fù)雜,,出現(xiàn)故障后傳統(tǒng)的接觸式診斷需要大量的時(shí)間和精力,,因此非接觸式的故障診斷方法已經(jīng)成為目前的迫切需要。

常見(jiàn)的電路板故障一般為短路,、斷路或者接觸不良,。短路時(shí)電路板電流較正常情況下大,因此對(duì)應(yīng)元件有溫升,,其紅外熱像圖較正常情況下有明顯異常;斷路或者接觸不良時(shí),,通過(guò)元件的電流值幾乎為零,此時(shí),,對(duì)應(yīng)元件的溫度較正常工作時(shí)低,,也能夠明顯的顯示在熱像圖中。因此,,可根據(jù)以上原理非常方便的判斷出電路板的故障點(diǎn),。

深圳銓博科技針對(duì)于電子行業(yè)的電路板檢測(cè)專(zhuān)門(mén)推出了便攜式電路板檢測(cè)型紅外熱像儀E40;此熱像儀可適用于電路元件器件溫度分析、整個(gè)電路場(chǎng)溫度分布分析等,。

電路板檢測(cè)型紅外熱像儀主要具有如下幾個(gè)特點(diǎn):

采用進(jìn)口384×288非制冷焦平面探測(cè)器,,配合公司*的圖像處理算法,能夠輸出圖像質(zhì)量*的紅外熱像圖并且測(cè)溫的靈敏度高(<0.06°C),。

軟件功能強(qiáng)大,,能夠直觀、實(shí)時(shí)得到被測(cè)對(duì)象的溫度分布,、曲線,、數(shù)據(jù)等并能夠保存和回放帶溫度的圖像及視頻流。

溫形式多樣,,能夠進(jìn)行zui高溫,、zui低溫追蹤,能夠進(jìn)行點(diǎn)測(cè)溫,、線測(cè)溫,、區(qū)域測(cè)溫,,并可設(shè)置閾值報(bào)警,能夠進(jìn)行等溫顯示,。

數(shù)據(jù)保存類(lèi)型多樣,,包括csv、bmp,、avi,、txt、word及一些自定義格式的文件保存方式供工程師分析使用,。

百兆以太網(wǎng)傳輸高幀頻(50Hz)的純溫度數(shù)據(jù),。

配備一整套完整的檢測(cè)平臺(tái),可調(diào)節(jié)高度的升降臺(tái)能夠?qū)崿F(xiàn)觀測(cè)距離和觀測(cè)范圍的自由調(diào)整,,方便工程師操作使用,。

選配微距鏡頭,能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)微米級(jí),、芯片級(jí)目標(biāo)物體的觀測(cè)與分析,,zui小可觀測(cè)25微米對(duì)象。

 

 

 標(biāo)準(zhǔn)鏡頭觀測(cè)電路板熱像圖

 

微距鏡頭觀測(cè)電路板熱像圖

 

 點(diǎn),、線,、區(qū)域、等溫測(cè)溫顯示

應(yīng)用案例:

深圳某公司是一家專(zhuān)注于各種模擬以及數(shù)?;旌螴C的設(shè)計(jì),,以手機(jī)等便攜式設(shè)備為主,全面提供模擬和數(shù)?;旌螴C的高科技公司,。該公司在多款產(chǎn)品電路設(shè)計(jì)與性能檢測(cè)評(píng)估中均采用了銓博科技的電路板檢測(cè)型紅外熱像儀E40,熱像儀的引入使得該公司工程師的研發(fā)與測(cè)試工作效率大大提高,,帶來(lái)了巨大的經(jīng)濟(jì)效益,。

該公司zui近新推出的針對(duì)智能手機(jī)及平板電腦的開(kāi)關(guān)充電IC AW3215 可大大提升充電效率,降低大電流充電給手機(jī)主板帶來(lái)的溫升,。電路板檢測(cè)型熱像儀在其設(shè)計(jì)與測(cè)試中均發(fā)揮了重要作用,。

 

 

圖5. 熱像儀在測(cè)試AW3215為手機(jī)充電帶來(lái)的主板溫升

熱像儀能夠直觀實(shí)時(shí)顯示電路板中任意一點(diǎn)的溫度,在圖5中采用普通線性充電的手機(jī)主板溫度為87.8°C,采用AW3215的主板溫度為47.0°C,直觀的顯示便于工程師了解所設(shè)計(jì)IC的質(zhì)量與引起的熱耗散情況,。

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