高低溫試驗箱在使用,、維護(hù),、性能等方面可能存在多種問題，這些問題既可能影響測試結(jié)果的準(zhǔn)確性,，也可能縮短設(shè)備壽命,。以下從設(shè)備本身、使用操作,、測試過程及維護(hù)保養(yǎng)四個維度,，梳理常見問題及原因：

一、設(shè)備本身的性能與故障問題

1. 控溫精度不足或波動大

• 表現(xiàn)：實際溫度與設(shè)定溫度偏差超過允許范圍（如 ±1℃以上）,，或溫度頻繁波動,。

• 原因：溫控傳感器老化、加熱 / 制冷系統(tǒng)故障（如加熱器功率衰減,、壓縮機缺氟）,、箱體內(nèi)氣流循環(huán)不均（風(fēng)扇故障）。

2.降溫 / 升溫速度慢或無法達(dá)到目標(biāo)溫度

• 表現(xiàn)：低溫?zé)o法降到 - 40℃以下,，高溫達(dá)不到 150℃以上,，或升降溫速率遠(yuǎn)低于設(shè)備標(biāo)稱值。

• 原因：壓縮機負(fù)載過大,、制冷劑泄漏,、加熱管損壞、保溫層老化（漏熱 / 漏冷）,。

3.濕度控制異常（針對高低溫濕熱試驗箱）

• 表現(xiàn)：濕度偏高 / 偏低,、濕度波動大,，或無法加濕 / 除濕。

• 原因：加濕器故障（如電極結(jié)垢,、水位傳感器失靈）,、除濕系統(tǒng)（如蒸發(fā)器）堵塞、濕度傳感器校準(zhǔn)失效,。

4.箱體密封性差

• 表現(xiàn)：箱門縫隙漏溫,、觀察窗結(jié)霜 / 起霧嚴(yán)重，導(dǎo)致箱內(nèi)溫度不穩(wěn)定,。

• 原因：密封條老化破損,、箱門合頁松動導(dǎo)致閉合不嚴(yán)。

5.控制系統(tǒng)故障

• 表現(xiàn)：觸摸屏無響應(yīng),、程序運行中斷,、參數(shù)設(shè)置無法保存。

• 原因：控制系統(tǒng)軟件 BUG,、線路接觸不良,、主板或繼電器損壞。
  
  

  
  

  
  

二,、使用操作中的常見問題

1. 測試樣品擺放不當(dāng)影響結(jié)果

• 問題：樣品堆疊過密,、靠近傳感器或出風(fēng)口，導(dǎo)致樣品受熱 / 受冷不均,，測試數(shù)據(jù)失真,。

• 本質(zhì)：未遵循 “樣品與箱壁、樣品間預(yù)留足夠空間” 的擺放規(guī)范,。

2.試驗負(fù)載超出設(shè)備承載范圍

• 問題：放入樣品的體積、重量過大,，或樣品本身發(fā)熱（如電子元件）,，導(dǎo)致箱內(nèi)溫度難以穩(wěn)定。

• 風(fēng)險：長期超載可能燒毀加熱 / 制冷系統(tǒng),，甚至引發(fā)設(shè)備過載保護(hù)停機,。

3.程序設(shè)置錯誤

• 問題：未根據(jù)測試標(biāo)準(zhǔn)（如 GB/T 2423）設(shè)置合適的溫變速率、循環(huán)次數(shù),，或忽略 “預(yù)熱 / 預(yù)冷” 步驟,，導(dǎo)致測試流程不符合規(guī)范。

三,、測試過程中的異?，F(xiàn)象

1. 箱內(nèi)結(jié)霜 / 冷凝水過多

• 低溫測試時，若樣品含水分或箱門頻繁開啟,，會導(dǎo)致蒸發(fā)器結(jié)霜,，影響制冷效率,；高溫高濕切換時，可能出現(xiàn)冷凝水附著樣品,，干擾測試,。

2.樣品 “凍傷” 或 “過熱損壞”

• 除設(shè)備控溫問題外，可能因樣品未做預(yù)處理（如密封防潮）,，在溫度下發(fā)生物理 / 化學(xué)變化（如塑料開裂,、金屬銹蝕），被誤判為設(shè)備故障,。

3.測試數(shù)據(jù)重復(fù)性差

• 同一批樣品多次測試結(jié)果偏差大,，可能源于設(shè)備溫場均勻性不足（箱內(nèi)不同位置溫差超 ±2℃）、傳感器校準(zhǔn)過期,，或操作流程不統(tǒng)一（如樣品放置位置每次不同）,。

四、維護(hù)保養(yǎng)不當(dāng)引發(fā)的問題

1. 過濾器堵塞導(dǎo)致制冷 / 制熱效率下降

• 空氣過濾器長期未清潔,，灰塵堵塞風(fēng)道,，影響箱內(nèi)氣流循環(huán)；制冷系統(tǒng)的干燥過濾器堵塞,，會導(dǎo)致制冷劑流通不暢,，降溫能力驟降。

2.潤滑不足或部件老化

• 壓縮機,、風(fēng)扇等運動部件缺油,，會產(chǎn)生異響甚至卡滯；密封條,、管路接口老化未及時更換,，可能導(dǎo)致制冷劑泄漏、箱門漏溫,。

3.長期閑置后的功能失效

• 設(shè)備停用期間未定期通電運行,，可能導(dǎo)致壓縮機潤滑油凝固、電路受潮短路,，再次啟動時出現(xiàn)無法制冷 / 制熱的情況,。