SRM 1976c X射線(xiàn)粉末衍射標(biāo)準(zhǔn)品由燒結(jié)氧化鋁圓盤(pán)組成,，用于校準(zhǔn) X 射線(xiàn)粉末衍射設(shè)備的線(xiàn)位置和強(qiáng)度作為 2θ 角的函數(shù)。 SRM 的固體形式消除了由樣品加載過(guò)程引入的強(qiáng)度測(cè)量中的任何可變性,。 SRM 1976c 的一個(gè)單元由一個(gè)直徑約為 25.6 毫米,、厚度為 2.2 毫米的燒結(jié)氧化鋁圓盤(pán)組成,。

SRM 1976c X射線(xiàn)粉末衍射標(biāo)準(zhǔn)品材料說(shuō)明：

用于生產(chǎn)此標(biāo)準(zhǔn)品的制造工藝是為生產(chǎn)電子元件基板而開(kāi)發(fā)的。用作這些基材前體的氧化鋁粉末具有高相純度（剛玉結(jié)構(gòu)）,，具有片狀顆粒形態(tài),。血小板的直徑通常為 5 μm 至 10 μm,，厚度為 2 μm 至 3 μm。圓盤(pán)的壓實(shí)過(guò)程導(dǎo)致軸對(duì)稱(chēng)紋理基面趨向于與圓盤(pán)表面平行,。紋理的這種軸對(duì)稱(chēng)特性允許樣品以任何關(guān)于表面法線(xiàn)的方向安裝。使用小百分比的鈣長(zhǎng)石玻璃相對(duì)壓塊進(jìn)行液相燒結(jié),。未檢測(cè)到結(jié)晶雜質(zhì),。液相燒結(jié)中涉及的玻璃相有效地防止了顆粒間的接觸，并在從燒結(jié)溫度冷卻碎片的過(guò)程中松弛,。這導(dǎo)致微應(yīng)變的最小發(fā)展及其相關(guān)的線(xiàn)展寬,；盡管可以檢測(cè)到一些微應(yīng)變，因?yàn)榫哂?tanθ 依賴(lài)性的高斯展寬,。鑒于此，以及基本不存在微晶尺寸展寬,，SRM 1976c 可用于獲得儀器輪廓函數(shù) (IPF) 的近似值,。但是,，不推薦使用 SRM 1976c 進(jìn)行定量微觀(guān)結(jié)構(gòu)分析,。包含該 SRM 原料的圓盤(pán)是在單一的專(zhuān)用生產(chǎn)運(yùn)行中制造的，以確保微觀(guān)結(jié)構(gòu)在晶粒尺寸,、形狀,、微應(yīng)變和紋理方面的一致性。

認(rèn)證值：

NIST 認(rèn)證值是 NIST 對(duì)其準(zhǔn)確性有最高置信度的值,，因?yàn)樗幸阎蚩梢傻钠顏?lái)源都已被調(diào)查或考慮在內(nèi),。被測(cè)量是表 1 中所示的相對(duì)強(qiáng)度（無(wú)量綱比）的認(rèn)證值，以及表 2 中所示的晶格參數(shù),。計(jì)量溯源性是國(guó)際單位制 (SI) 單位,，相對(duì)強(qiáng)度值是維度為一，對(duì)于晶格參數(shù),，維度是長(zhǎng)度（以納米表示）,。認(rèn)證值和不確定度是根據(jù) ISO/JCGM 指南 [1] 中描述的方法計(jì)算的。

信息價(jià)值：

SRM 1976c X射線(xiàn)粉末衍射標(biāo)準(zhǔn)品認(rèn)證相關(guān)的分析包括計(jì)算表 3 中所示的衍射線(xiàn)位置,。為了在各種光學(xué)配置的衍射設(shè)備上使用

SRM 1976c,，必須考慮偏振的影響。表 4 中顯示的值包括偏差

應(yīng)用于認(rèn)證值以說(shuō)明這種影響,。表 3 和表 4 的數(shù)據(jù)表示為信息值,。信息值被認(rèn)為是 SRM 用戶(hù)感興趣的值，但沒(méi)有足夠的信息來(lái)評(píng)估與該值相關(guān)的不確定性,。信息值不能用于建立計(jì)量溯源性,。

篇幅有限,，如需了解更多SRM 1976c X射線(xiàn)粉末衍射標(biāo)準(zhǔn)品的產(chǎn)品信息及報(bào)價(jià)，請(qǐng)聯(lián)系我們獲得,！