泰勒霍普森粗糙度儀 DUO,，在表面粗糙度測量領(lǐng)域,。其采用接觸式測量原理，配備耐磨金剛石測針與精密機(jī)動驅(qū)動裝置,。電機(jī)驅(qū)動測針在被測物體表面穩(wěn)定移動,，高感應(yīng)度壓電傳感器捕捉測針垂直位移,，將機(jī)械移動轉(zhuǎn)化為電子信號,，經(jīng)數(shù)字化處理后由微處理器運(yùn)用標(biāo)準(zhǔn)化算法，即時計算出表面粗糙度參數(shù),。

DUO 功能強(qiáng)大,，一鍵操作即可快速測量 Ra（輪廓算術(shù)平均偏差）、Rz（微觀不平度十點(diǎn)高度）,、Rp（輪廓最大峰高）,、Rv（輪廓最大谷深）、Rt（輪廓最大高度）等多個粗糙度參數(shù),，并清晰顯示在 2.4 英寸直觀 LCD 彩色屏幕上,。

儀器使用充電電池供電，續(xù)航能力強(qiáng),，能在各類環(huán)境和物體表面實(shí)現(xiàn)快速,、便捷且精確的現(xiàn)場測量。其還具備諸多實(shí)用設(shè)計：運(yùn)用藍(lán)牙技術(shù),，實(shí)現(xiàn)驅(qū)動與顯示 / 控制裝置間快速可靠通信,；可呈現(xiàn)詳細(xì)輪廓圖形，助力分辨測量區(qū)域問題,；通過滑軌和鎖定裝置,，能分為顯示 / 控制與驅(qū)動兩部分，便于在特殊位置測量,。

在技術(shù)參數(shù)方面,，分辨率達(dá) 0.01μm（0.4μin） ，量程上,，Ra 最大 40μm（1600μin），Rz,、Rv,、Rp、Rt 最大 199μm（7800μin）,，重復(fù)性為示值的 2% + 噪聲,，精度是讀數(shù)的 5% + 0.1μm（4μin）。此外,，操作環(huán)境溫度為 0 - 40℃,，濕度 0 - 80% 非冷凝，存儲環(huán)境溫度 0 - 50℃,，濕度 0 - 80% 非冷凝 ,。

DUO 應(yīng)用廣泛，在工業(yè)生產(chǎn)中,，可用于研磨,、車削等加工工藝的過程控制；在航空航天領(lǐng)域,，能保障渦輪葉片等關(guān)鍵零部件質(zhì)量,；在印刷輥,、地板、玻璃等產(chǎn)品生產(chǎn)中,，也可有效把控表面質(zhì)量,。