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　　臺式薄膜厚度自動測量儀是一種用于精確測量薄膜,、紙張、箔片,、硅片等多種材料厚度的專業(yè)設(shè)備,，以下從技術(shù)特征、適用范圍,、執(zhí)行標準,、操作功能等方面展開介紹：

　　一、技術(shù)特征

　　接觸式測量：臺式薄膜厚度自動測量儀采用機械接觸式測量方式,，將預先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上,，與下測量面平行且中心對齊的上測量面以一定壓力落到薄型試樣的另一面上，同測量頭一體的傳感器自動檢測出上下測量面之間的距離,，即為薄型試樣的厚度,。這種測量方式嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性,。

　　測量頭自動升降：測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差,。

　　支持自動和手動兩種測量模式：方便用戶根據(jù)實際需求自由選擇,。

　　數(shù)據(jù)實時顯示與分析：可實時顯示測量結(jié)果的最大值、最小值,、平均值以及標準偏差等分析數(shù)據(jù),，方便用戶進行判斷。

　　配置標準量塊用于系統(tǒng)標定：保證測試的精度和數(shù)據(jù)一致性,。

　　支持多種實用功能：系統(tǒng)支持數(shù)據(jù)實時顯示,、自動統(tǒng)計、打印等許多實用功能,，方便快捷地獲取測試結(jié)果。

　　微電腦控制與人性化界面：系統(tǒng)由微電腦控制,，搭配液晶顯示器,、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進行試驗操作和數(shù)據(jù)查看,。

　　數(shù)據(jù)傳輸與共享：具備標準的RS232接口,，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸;支持LystemTM實驗室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗結(jié)果和試驗報告,。

　　二,、適用范圍

　　適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片,、隔膜,、紙張,、箔片,、硅片等各種材料的厚度精確測量。在塑料,、橡膠、紙張,、紡織品,、金屬箔片(如鋁箔、銅箔,、錫箔等)以及半導體材料等行業(yè)有廣泛應用,。

　　三,、執(zhí)行標準

　　臺式薄膜厚度自動測量儀執(zhí)行多項國內(nèi)外標準，如ISO 4593,、ISO 534,、ISO 3034、GB/T 6672,、GB/T 451.3,、GB/T 6547,、ASTM D374,、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250,、JIS K6783,、JIS Z1702、BS 3983,、BS 4817等,。