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光學(xué)高溫計是非接觸式測量高溫的儀表,，當(dāng)被測量的溫度高於熱電偶所能使用的范圍,，以及熱電偶不可能裝置或不適宜裝置的場所，用光學(xué)高溫計一般可以滿足這個要求,。它廣泛地用來測量冶煉,、燒鑄、軋鋼,、玻璃熔窖,、鍛打、熱處理的溫度,，是冶金,、化工和機械等工業(yè)*過程中*的溫度測量儀表之一,。本儀器是利用受熱物體的單色輻射強度隨溫度升高而增長的原理來進行高溫測量的光學(xué)高溫計是非接觸式測量高溫的儀表，當(dāng)被測量的溫度高於熱電偶所能使用的范圍,，以及熱電偶不可能裝置或不適宜裝置的場所,，用光學(xué)高溫計一般可以滿足這個要求。它廣泛地用來測量冶煉,、燒鑄,、軋鋼、玻璃熔窖,、鍛打,、熱處理的溫度，是冶金,、化工和機械等工業(yè)*過程中*的溫度測量儀表之一,。
光學(xué)高溫計-上海自動化儀表三廠的組成及使用：
光學(xué)高溫計的組成.它主要由光學(xué)系統(tǒng)和電測系統(tǒng)兩部分組成。
(1)光學(xué)系統(tǒng) 由物鏡1和目鏡4組成望遠光學(xué)系統(tǒng),，光學(xué)高溫計燈泡3的燈絲置于系統(tǒng)中物鏡成象位置.物鏡1和目鏡4都可以沿軸向位移.調(diào)節(jié)目鏡位置,，可清晰地看到到燈絲3。調(diào)節(jié)物鏡位置,，可使被測物體清晰地成象在燈絲平面上,，以便比較二者的亮度。在測U時,，將紅色濾光片5移入視場,，它僅能使有效波長之= 0.66um的紅光通過，以保證滿足在一定波長λ(即單色)一卜測溫條件,。
在物鏡1和燈泡3之間設(shè)置有吸收玻璃2,當(dāng)它移入視場時,，可減弱被測物體在燈絲平面所成象的亮度，也就是在不增加燈絲亮度的情況下,，可加大儀表的測溫范圍.一般測量1400℃以上的溫度時,，將吸收玻璃2移入視場。
(2)電測系統(tǒng)它由高溫?zé)襞?,滑線電阻7,、按鈕開管K,、電阻R和兩節(jié)干電池連接組成，調(diào)節(jié)滑線電阻7可改變通過高溫?zé)襞轃艚z的電流,，即可改變燈絲亮度.毫伏表6是用來測魷不同亮度時燈絲兩端的電壓降,，而指示值則以溫度刻度表示.
(3)測量過程
測量時，首先應(yīng)使被測物體成象于燈絲平面,，通過觀察孔比較燈絲和被測物體的亮度.若燈絲亮度比被測物體亮度低,，燈絲就在這個背景上顯現(xiàn)出暗的弧線。調(diào)整燈絲亮度,，若燈絲的亮度高,，則燈絲就在暗的背景上顯現(xiàn)出亮的弧線,。繼續(xù)調(diào)整燈絲亮度，若兩者亮度一樣,，則燈絲就隱滅在物體發(fā)光的背景里.此時就可由刻度標(biāo)尺讀出被測物體的亮度溫度Ts,，按式(2-23)修正后可得到被測物體的真實溫度.由于在測量時，燈絲要隱滅,，所以這種光學(xué)高溫計又稱“隱絲式光學(xué)高溫計”。
(4)使用光學(xué)高溫計應(yīng)注意的事項
a.非黑體的影響:由于被測物體是非絕對黑體,，而且物體的黑度系數(shù)ελ不是常數(shù),，它和波長λ、物體的表面情況以及溫度的高低有關(guān)系,。在不同情況下,，物體黑度系數(shù)變化很大，這給測量帶來很不利的影響,。為消除ελ的影響,，可以人為地創(chuàng)造黑體輻射條件，譬如測量爐膛溫度,，可以插入一根細長有封底的陶瓷管,，在其充分受熱后，這個管子底部的輻射就可以近似地認(rèn)為是絕對黑體了,。為了得到足夠的黑度,，管子長度與什子的內(nèi)徑之比不得小于10.
b.中間介質(zhì)的影響:光學(xué)高溫計和被測物體之間如果有灰塵，煙霧和二氧化碳等氣體時,，對熱輻射會有吸收作用,，因而造成測從誤差。在實際測量時很難做到?jīng)]有灰塵,，因此光學(xué)高溫計不要距被測物體太遠,，一般在1~2m以內(nèi)。
c.光學(xué)高溫計不宜在反射光很強的地方進行測量,，否則要產(chǎn)生誤差,。
光學(xué)高溫計由于非黑體的影響，測量的精度要比熱電偶,、熱電阻低,，且結(jié)構(gòu)復(fù)雜、價格貴,、不能測內(nèi)部點的溫度,，因此在使用上受到限制。
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