校準(zhǔn)前準(zhǔn)備

1. 環(huán)境條件：確保校準(zhǔn)環(huán)境溫度在 23℃±5℃ ,，相對濕度在 45% - 75% RH 范圍內(nèi),，且周圍無強磁場、電場干擾及機械振動,。

2. 標(biāo)準(zhǔn)器具：準(zhǔn)備經(jīng)國家計量部門校準(zhǔn)合格且在有效期內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)磁場源,，如標(biāo)準(zhǔn)電磁鐵或亥姆霍茲線圈，其磁場精度應(yīng)高于 TM - 4300 預(yù)期校準(zhǔn)精度的 3 - 5 倍,。同時準(zhǔn)備高精度的高斯計作為參考標(biāo)準(zhǔn),，用于對比測量。

3. 儀器預(yù)熱：將 TM - 4300 接通電源,，預(yù)熱 30 - 60 分鐘,，使儀器達(dá)到穩(wěn)定工作狀態(tài)。

校準(zhǔn)步驟

1. 水平軸（X 軸）校準(zhǔn)

• 連接與定位：將探頭的 X 軸方向與標(biāo)準(zhǔn)磁場源的磁場方向嚴(yán)格平行對齊,?？梢允褂脵C械夾具或定位裝置輔助確保精確對準(zhǔn)。

• 測量與記錄：通過標(biāo)準(zhǔn)磁場源產(chǎn)生一系列已知強度的磁場,，例如從 0 mT 開始,，以 10 mT 為增量，逐步增加到 100 mT ,。在每個磁場強度點,，使用 TM - 4300 測量并記錄顯示值,，同時使用參考高斯計測量并記錄實際磁場值。

• 數(shù)據(jù)處理：計算每個測量點 TM - 4300 的測量值與參考高斯計測量的實際值之間的偏差,。例如,，若參考高斯計測量值為 50 mT，TM - 4300 顯示值為 50.5 mT,，則偏差為 0.5 mT ,。繪制偏差曲線，以磁場強度為橫坐標(biāo),，偏差值為縱坐標(biāo),。

• 校準(zhǔn)調(diào)整：根據(jù)偏差曲線，若偏差超出儀器規(guī)定的允許誤差范圍（如 ±1%）,，通過儀器自帶的校準(zhǔn)功能,，如在菜單中找到 X 軸校準(zhǔn)選項，輸入修正系數(shù)進(jìn)行調(diào)整,。修正系數(shù)計算方法為：實際值 / 測量值。例如,，測量值為 50.5 mT,，實際值為 50 mT，則修正系數(shù)為 50 / 50.5 ≈ 0.99,。輸入該修正系數(shù)后,，再次測量驗證，直至偏差在允許范圍內(nèi),。

2. 垂直軸（Y 軸）校準(zhǔn)

• 改變方向與重復(fù)操作：將探頭旋轉(zhuǎn) 90°,，使 Y 軸與標(biāo)準(zhǔn)磁場源的磁場方向平行。重復(fù) X 軸校準(zhǔn)的測量,、記錄,、數(shù)據(jù)處理和校準(zhǔn)調(diào)整步驟，完成 Y 軸校準(zhǔn),。

3. 第三軸（Z 軸）校準(zhǔn)

• 再次旋轉(zhuǎn)與校準(zhǔn)：再次將探頭旋轉(zhuǎn) 90°,，使 Z 軸與標(biāo)準(zhǔn)磁場源的磁場方向平行。同樣重復(fù)上述完整的校準(zhǔn)流程,，完成 Z 軸校準(zhǔn),。

校準(zhǔn)后驗證

1. 全量程驗證測量：校準(zhǔn)完成后，使用標(biāo)準(zhǔn)磁場源產(chǎn)生覆蓋儀器全量程的多個不同磁場強度值,，如 0 mT,、20 mT、50 mT,、80 mT,、100 mT ,，在每個值處用校準(zhǔn)后的 TM - 4300 進(jìn)行測量，并與參考高斯計測量值對比,。

2. 精度確認(rèn)：計算各測量點的偏差,，確認(rèn)所有偏差均在儀器規(guī)定的精度范圍內(nèi)。若有偏差超出范圍,，需重新檢查校準(zhǔn)步驟或考慮儀器硬件是否存在故障,。

校準(zhǔn)記錄與報告

1. 詳細(xì)記錄：在整個校準(zhǔn)過程中，詳細(xì)記錄校準(zhǔn)日期,、校準(zhǔn)環(huán)境條件,、標(biāo)準(zhǔn)器具信息、各軸測量數(shù)據(jù),、偏差計算結(jié)果,、校準(zhǔn)調(diào)整過程及最終驗證結(jié)果等。

2. 生成報告：根據(jù)記錄內(nèi)容,，生成正式的校準(zhǔn)報告,。報告應(yīng)包含儀器基本信息、校準(zhǔn)依據(jù),、校準(zhǔn)過程,、校準(zhǔn)結(jié)果及結(jié)論等內(nèi)容，校準(zhǔn)報告需經(jīng)校準(zhǔn)人員簽字確認(rèn),，并加蓋校準(zhǔn)機構(gòu)相關(guān)印章,。