菲希爾代理X射線測(cè)厚儀XDL230簡(jiǎn)介
菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 X射線測(cè)厚儀是一款高精密能量色散型 X 射線熒光(EDXRF)檢測(cè)設(shè)備,以下從其測(cè)量原理,、性能優(yōu)勢(shì),、硬件配置、軟件系統(tǒng),、應(yīng)用領(lǐng)域等方面進(jìn)行介紹:
FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 X射線測(cè)厚儀測(cè)量原理:
X 射線熒光光譜法:基于 X 射線熒光光譜分析技術(shù),,設(shè)備通過(guò) X 射線源發(fā)射初級(jí)射線激發(fā)樣品,使元素原子內(nèi)層電子躍遷產(chǎn)生特征 X 射線熒光,。探測(cè)器精準(zhǔn)捕獲熒光的能量與強(qiáng)度數(shù)據(jù),,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)元素成分、鍍層厚度的定量分析,。
基本參數(shù)法(FP 法):內(nèi)置 12 純?cè)仡l譜庫(kù)(Ag,、Cu、Fe,、Ni,、Zn、Zr,、Mo,、Sn、W、Au,、Pb,、Cr),無(wú)需標(biāo)準(zhǔn)片即可對(duì)鍍層系統(tǒng),、固體和液體樣品進(jìn)行測(cè)量和分析,,同時(shí)具備 MQ 值顯示,用于判斷測(cè)量程式與樣品匹配度,,防止誤操作,。
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