01 引言
鑄鐵是一類以碳含量為1.8–4.0%(重量百分比)和硅含量為1–3%(重量百分比)為特征的鐵合金。碳含量對于控制鑄鐵的性能至關(guān)重要,,碳含量較低的鐵合金則被歸類為鋼。鑄鐵與鋼類似,,廣泛應(yīng)用于多個行業(yè)和領(lǐng)域,,因此確保其能夠可靠地生產(chǎn)和分析至關(guān)重要。
在鐵合金的表征中,,目前紅外光譜燃燒分析法是測定碳含量的參考技術(shù),。然而,隨著探測器窗口技術(shù)的進(jìn)步,,能量色散X射線熒光(EDXRF)也成為了一種快速,、非破壞性的元素分析方法,,可用于碳含量分析,。
在本應(yīng)用說明中,使用Thermo Scientific™ ARL QUANT’X 光譜儀通過一系列校準(zhǔn)曲線,,對鑄鐵樣品的成分進(jìn)行了可靠且可重復(fù)的分析,。
02 儀器配置
ARL QUANTX EDXRF光譜儀配備以下組件:
·50瓦、50千伏銠(Rh)陽極X射線管
·帶9個可選濾光片位置的濾光輪
·采用0.9微米厚石墨烯窗口的先進(jìn)硅漂移探測器(SDD500G)
該石墨烯窗口對低能X射線(如碳原子發(fā)射的X射線)具有高透過率,,可檢測元素周期表中從碳(Z = 6)到镅(Z = 95)的所有元素,。此外,儀器還配備樣品旋轉(zhuǎn)器,、10或20位自動進(jìn)樣器,,并支持空氣、氦氣或真空環(huán)境下的分析,,使其成為一款高度通用的分析工具,。

03 實驗準(zhǔn)備
樣品制備
采用8種VASKUT鑄鐵有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)(CRMs)建立C,、Si,、P,、S、Cr,、Mn和Ni的校準(zhǔn)曲線。測量前,使用120目氧化鋁砂紙在Herzog圓盤磨樣機(jī)上對標(biāo)準(zhǔn)品表面進(jìn)行打磨,。表1列出了這些標(biāo)準(zhǔn)品的元素認(rèn)證濃度范圍及校準(zhǔn)數(shù)據(jù),。

表1. 濃度范圍及校準(zhǔn)數(shù)據(jù)
測量條件
僅需兩種測量條件即可測定鑄鐵樣品的元素組成(表2):

表2. 鑄鐵元素成分測定條件
·低原子序數(shù)條件:4 kV激發(fā)電壓,,無濾光片,600秒活時間,,用于測定碳等輕元素,。
·中原子序數(shù)條件:16 kV激發(fā)電壓,薄鈀濾光片,,120秒活時間,,用于測定Cr等重元素。
所有測量均在真空環(huán)境下進(jìn)行,,這對碳X射線熒光的檢測至關(guān)重要,,并能顯著提高輕元素的靈敏度。
04 碳Kα信號分析
圖1A展示了標(biāo)準(zhǔn)品VASKUT 185在低原子序數(shù)條件下的全譜圖(含碳3.28% w/w),。盡管碳信號明確,,但與其他元素譜線相比強(qiáng)度較低。圖1B疊加了所有標(biāo)準(zhǔn)品在0–0.5 keV能量范圍內(nèi)的譜圖,,顯示不同碳濃度對應(yīng)不同的碳Kα強(qiáng)度,。
通過0.16–0.38 keV能量區(qū)間(涵蓋碳峰)計算凈碳Kα峰強(qiáng)度。采用直線法校正背景,,剩余強(qiáng)度全部歸因于碳Kα信號,。

圖1. A) 標(biāo)準(zhǔn)品VASKUT 185的全譜圖,;B) 所有8種VASKUT標(biāo)準(zhǔn)品的碳峰疊加譜圖(低原子序數(shù)條件:4 kV,,無濾光片)
05 校準(zhǔn)結(jié)果
圖2展示了鑄鐵中主要合金元素的校準(zhǔn)曲線。對于大多數(shù)元素,,無需進(jìn)行基體校正,,元素譜線強(qiáng)度與濃度呈線性關(guān)系。硅(Si)和鎳(Ni)需使用一個影響系數(shù)校正基體效應(yīng),,校正后的強(qiáng)度與濃度仍保持線性關(guān)系,。表1列出了各元素校準(zhǔn)的均方根誤差(RMSE)和相關(guān)系數(shù)(R2)。

圖2. 鑄鐵中各元素的校準(zhǔn)曲線
總體而言,,所有元素均獲得令人滿意的校準(zhǔn)結(jié)果,。碳(C)的校準(zhǔn)曲線明確表明,配備超薄石墨烯窗口SDD500G探測器的ARL QUANTX光譜儀能夠?qū)崿F(xiàn)鑄鐵中碳含量的定量分析,。
06 重復(fù)性分析
為評估分析的短期重復(fù)性(精密度),,對標(biāo)準(zhǔn)樣品VASKUT 185進(jìn)行了連續(xù)10次測量。表3將各元素的平均測量濃度與認(rèn)證濃度進(jìn)行對比,。
總體而言,,精密度與測量時間相關(guān):除校準(zhǔn)使用的120秒和600秒外,還測試了400秒/80秒,、200秒/40秒及100秒/20秒的活時間組合,。即使在最短測量時間內(nèi),結(jié)果仍保持足夠的精密度以滿足可靠分析需求,。

表3. VASKUT 185鑄鐵標(biāo)準(zhǔn)品在不同活時間下的重復(fù)性結(jié)果
07 結(jié)論
本應(yīng)用說明證明:
1.APL QUANT'X EDXRF光譜儀可定量分析鑄鐵中的C、Si,、P,、S、Cr,、Mn和Ni等元素,;
2.所有元素僅需簡單校準(zhǔn)曲線,且基本無需基體校正,;
3.重復(fù)性數(shù)據(jù)顯示,,即使在短測量時間內(nèi)仍具有優(yōu)異的準(zhǔn)確度和精密度。
這些結(jié)果凸顯了EDXRF技術(shù)在鑄鐵成分測定中的實用性,。配備最新探測器窗口技術(shù)的APL QUANT'X光譜儀,,顯著拓展了EDXRF的分析能力。
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