松下 Panasonic測量和測量系統(tǒng)的優(yōu)勢
松下測量和測量系統(tǒng)的優(yōu)勢
高標(biāo)準(zhǔn)的三維測量機(jī)UA3P可以適應(yīng)許多領(lǐng)域,。
超高精度測量(實(shí)現(xiàn)單納米可重復(fù)性)
使用接觸測量(旋轉(zhuǎn)對稱的非球面和自由形式表面)的絕對形狀評估
復(fù)雜形狀的靈活的NC路徑
從測量數(shù)據(jù)(例如Zerinike Anallys)中實(shí)現(xiàn)各種分析
還可以評估表面和外部形狀之間的偏心率(例如,非球面,,自由形式的表面,,晶圓鏡片)
即使在復(fù)雜的形狀中也可以測量表面粗糙度
可以在沒有設(shè)計(jì)公式的情況下進(jìn)行測量和評估
使用CAD數(shù)據(jù)評估
通過自動(dòng)測量進(jìn)行工作水平和勞動(dòng)節(jié)省
松下測量和測量系統(tǒng)的功能
松下 Panasonic測量和測量系統(tǒng)協(xié)調(diào)測量技術(shù)
測量機(jī)的坐標(biāo)系由獨(dú)立于階段的三個(gè)參考平面(鏡子)組成,每個(gè)XYZ軸都使用激光干涉儀,,使用頻率穩(wěn)定的HE-NE激光作為光源來測量0.3 nm的分辨率,。這降低了舞臺的平方和直率的影響,從而實(shí)現(xiàn)了高精度的測量,。
坐標(biāo)軸引起的測量誤差:在0.05μm內(nèi)(高達(dá)100毫米),,在0.3μm以內(nèi)(高達(dá)500 mm)
協(xié)調(diào)測量技術(shù)
測量探針
通過超低測量力,可以對測量物體進(jìn)行高精度掃描測量,。
手寫筆由微型空氣滑塊持有,,焦點(diǎn)激光器檢測出手寫筆的運(yùn)動(dòng),并根據(jù)測量對象的形狀遵循AFP的位置,,以使測量力是恒定的,。
測量力:0.15-0.30 MN(15-30 mgf) *UA3P-3100/4000為0.05-0.30 MN,,UA3P-5000H為0.10-0.30 MN
手寫筆:角度30度,r =2μm鉆石手寫筆可以使用
測量探針
核心軟件技術(shù)
通過簡單操作實(shí)現(xiàn)高精度測量,。它可以處理任何設(shè)計(jì)信息,,并且可以通過以三維方式糾正測量對象的安裝錯(cuò)誤來進(jìn)行準(zhǔn)確的形狀測量。
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