高精度測量：Surtronic S-116 粗糙度儀能夠提供極其精確的測量結(jié)果，粗糙度標(biāo)準(zhǔn)（Ra）測量精度可達(dá) ±(2% + 0.004μm) ,，工件或者元件表面（Ra）一次測量值精度為 ±3% ,。這一高精度特性，使其能夠滿足對表面質(zhì)量要求高的行業(yè),，如精密軸承制造,、航空航天零部件加工等，確保產(chǎn)品質(zhì)量符合嚴(yán)格的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范,。

豐富的測量參數(shù)：該儀器可測量多個粗糙度參數(shù),，包括 Ra（算術(shù)平均粗糙度）、Rv（輪廓最大谷深）,、Rp（輪廓最大峰高）,、Rz（十點高度粗糙度）、Rt（輪廓總高度）,、Rq（均方根粗糙度）,、Rsk（偏斜度）、Rmr（材料比）等 ,。在不同標(biāo)準(zhǔn)下,，如 ISO、ASME,、JIS 等,，可測量的參數(shù)數(shù)量有所不同，最多可達(dá) 14 個參數(shù),，全面反映表面粗糙度特征,，為用戶提供詳細(xì)、全面的表面質(zhì)量信息,。

廣泛的測量范圍：測量范圍涵蓋 200μm / 100μm / 10μm,，分辨率可達(dá) 100nm / 20nm / 10nm ,，能適應(yīng)從粗糙表面到超精密表面的各種測量需求。無論是大型機(jī)械零部件的粗糙加工表面,，還是光學(xué)鏡片、電子芯片等超精密元件的光滑表面,，Surtronic S-116 都能準(zhǔn)確測量,。