進(jìn)行繼電保護(hù)裝置測(cè)試時(shí)，繼電保護(hù)測(cè)試儀的開(kāi)入量與保護(hù)裝置動(dòng)作與否,、動(dòng)作時(shí)間等息息相關(guān),。 現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)繼電保護(hù)跳了，但繼保測(cè)試儀未收到動(dòng)作接點(diǎn),，檢查開(kāi)入接線,、保護(hù)動(dòng)作均良好，單獨(dú)短接開(kāi)入量進(jìn)行測(cè)試時(shí)也顯示正常,。 針對(duì)此類問(wèn)題,，我們可以從開(kāi)入量的原理入手進(jìn)行分析?！　?/p>

△ 圖1 開(kāi)入量端子原理圖　　

△ 圖2 無(wú)電位接點(diǎn)        △ 圖3 帶電位接點(diǎn)

　　圖1以開(kāi)入A舉例說(shuō)明,，其他路開(kāi)入量與開(kāi)入A原理相同，并共用電源和COM端,。 設(shè)圖中電壓源電壓為 U1,，圖1中O1為光耦，光耦負(fù)邊通至測(cè)試裝置主板,，當(dāng)光耦由通變斷或由斷變通,，即光耦的通斷狀態(tài)有變化時(shí)，測(cè)試儀會(huì)記錄光耦狀態(tài)變化瞬間的時(shí)刻,。

　　此電路的工作原理： O1最小導(dǎo)通電流為Imin,，最大工作電流為Imax,，回路電流為I，當(dāng)I≥Imin,，時(shí),，O1導(dǎo)通，IImax時(shí),，電路燒壞,。 下面我們以不帶電位接點(diǎn)(圖 2)和帶電位接點(diǎn)(圖3)兩種情況進(jìn)行說(shuō)明。

　　直接從保護(hù)裝置跳閘端子接線,，未引入直流電源回路,。 試驗(yàn)時(shí)可能會(huì)出現(xiàn)兩種接法：

　　1、取1,、2兩點(diǎn)接入測(cè)試裝置的開(kāi)入量COM,、A，由于無(wú)電位,，兩點(diǎn)接線可以任意交換,。 此時(shí)，若開(kāi)關(guān)為分,，電路開(kāi)路， I=0,，光耦不通,。 當(dāng)保護(hù)裝置給出跳閘信號(hào)時(shí)，圖中開(kāi)關(guān)會(huì)由分到合,，此時(shí) ,，(U1、R1,、R2的值固定)光耦導(dǎo)通,，測(cè)試裝置記錄動(dòng)作。 此種接法進(jìn)行測(cè)試時(shí)通常不會(huì)出現(xiàn)異常,。

　　2,、當(dāng)從1、3兩點(diǎn)接入時(shí),，回路中多串入一個(gè)電阻R,，此時(shí) ，電流I的大小取決于R,，R越大,，I越小，當(dāng)R足夠大導(dǎo)致I

　　2,、COM接點(diǎn)1,，A接點(diǎn)3,，此種情況開(kāi)關(guān)未閉合時(shí)電流 ，光耦不通,。 當(dāng)保護(hù)跳閘,，開(kāi)關(guān)閉合時(shí)，開(kāi)關(guān)兩端電壓為 0V,，此時(shí)電流 ,，光耦還是不通，測(cè)試裝置無(wú)法記錄動(dòng)作,，因此此種接法錯(cuò)誤,。

　　3、COM接點(diǎn)2,，A接點(diǎn)3,，此種情況開(kāi)關(guān)未閉合時(shí)，電流 ,，若R較小,，能使I≥Imin，則光耦導(dǎo)通,，當(dāng)保護(hù)跳閘,，開(kāi)關(guān)閉合時(shí)，電阻R上的電壓UR=U2,，電流 ,，光耦不通。 這樣光耦由通變?yōu)椴煌?，狀態(tài)有變化,，測(cè)試裝置能正常記錄動(dòng)作時(shí)間。 若 R較大,，使得開(kāi)關(guān)未閉合時(shí)電流 ,，光耦不通，此種情況無(wú)論開(kāi)關(guān)是否閉合,，光耦均不通,，測(cè)試裝置無(wú)法正常記錄保護(hù)動(dòng)作。 因此此種接法和不帶電位的第二種接法一樣,，能否正常測(cè)試均取決于 R的大小,，一般不建議采用。

　　除此之外,，還有其他接線方法以及純電位高低的測(cè)試,，其原理和以上列舉的基本類同，不再贅述。

　　綜上所述,，現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)時(shí),，無(wú)論是不帶電位接點(diǎn)還是帶電位接點(diǎn)，接線盡量采用兩種情況下列舉的第一種接線方式,，通常不會(huì)出現(xiàn)異常,。 無(wú)法正常記錄時(shí)，可以甩開(kāi)保護(hù)接線,，在測(cè)試裝置運(yùn)行時(shí)用短接線直接對(duì) A和COM短接,，若測(cè)試裝置能正常記錄動(dòng)作，則可以排除繼保測(cè)試儀的故障,。