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核心技術(shù)原理
FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 基于 X 射線熒光光譜分析原理開展工作,。當(dāng) X 射線源發(fā)出的初級(jí) X 射線照射樣品時(shí),，樣品中各元素原子的內(nèi)層電子被激發(fā)產(chǎn)生空位,，外層電子躍遷填補(bǔ)空位并釋放特征 X 射線熒光,。設(shè)備通過探測(cè)器收集特征 X 射線熒光的能量與強(qiáng)度信息,，結(jié)合基本參數(shù)法（FP 法）,，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品中元素種類、含量以及鍍層厚度的定量分析,。自動(dòng)聚焦功能確保 X 射線束與樣品表面的最佳耦合,，提升測(cè)量精度與重復(fù)性。
菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 X 射線鍍層測(cè)厚儀通過 EDXRF 技術(shù)與多維度創(chuàng)新設(shè)計(jì),，實(shí)現(xiàn)了檢測(cè)精度,、效率與適用性的有機(jī)統(tǒng)一。其在無損檢測(cè)領(lǐng)域的應(yīng)用,，為工業(yè)生產(chǎn)質(zhì)量管控與材料科學(xué)研究提供了可靠的技術(shù)手段,，隨著檢測(cè)需求的持續(xù)升級(jí)，該設(shè)備的技術(shù)優(yōu)勢(shì)將進(jìn)一步推動(dòng)相關(guān)領(lǐng)域的檢測(cè)技術(shù)發(fā)展,。
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