在測(cè)量效率與精準(zhǔn)度方面,,英國(guó)泰勒霍普森粗糙度儀 DUO 表現(xiàn)很好。其多參數(shù)測(cè)量功能堪稱規(guī)范,,用戶僅需一鍵操作,便能同步獲取 Ra(輪廓算術(shù)平均偏差),、Rz(輪廓最大高度)、Rp(輪廓最大峰高),、Rv(輪廓最大谷深)和 Rt(輪廓總高度)等核心參數(shù),,能剖析被測(cè)表面的粗糙度特征,為質(zhì)量把控提供詳實(shí)數(shù)據(jù)支撐,。
測(cè)量范圍上,,DUO 展現(xiàn)出強(qiáng)大的兼容性與適應(yīng)性。Ra 量程覆蓋 0.01μm-40μm,,Rz,、Rp、Rv,、Rt 可達(dá) 0.1μm-199μm,,搭配 200μm 的傳感器范圍與 5mm 行程,無(wú)論是精密零件的微觀表面檢測(cè),,還是大型工件的宏觀輪廓評(píng)估,,都能輕松勝任,滿足多樣化的高精度測(cè)量需求,。
談及測(cè)量精度,,DUO 憑借 0.01μm 的超高分辨率,將 Ra 精度控制在 0.01μm,、Rz 精度達(dá) 0.1μm,,測(cè)量誤差僅為讀數(shù)的 5%+0.1μm,重復(fù)性誤差保持在值的 2%+ 噪聲水平,。這般嚴(yán)苛的精度標(biāo)準(zhǔn),,確保每一次測(cè)量數(shù)據(jù)都真實(shí)可靠,為生產(chǎn)制造與質(zhì)量檢測(cè)筑牢精確根基,。
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