本文主要描述了USB接口的線纜測試的大致方法,，高速USB線纜USB2.0 USB3.0 USB4.0線束特征參數(shù)測試,，從2.0到4.0,，傳輸速率越來越快,，通道也由單通道變成兩通道,，但是測試的思路和方法大致不變,，只是需要用到的測試儀器，支持的帶寬需要更高,。

一,、USB技術(shù)的發(fā)展史

       1994年,，英特爾、微軟等企業(yè)成立USB-IF聯(lián)盟,，由工程師Ajay Bhatt主導設(shè)計,，旨在終結(jié)接口混亂。兩年后USB 1.0（1.5Mbps）誕生,，但直到1998年USB 1.1（12Mbps）搭配Windows 98才普及,。2000年USB 2.0（480Mbps）淘汰軟盤，成為PC標配,。2008年USB 3.0（5Gbps）支持高清傳輸,，藍色接口成“速度圖騰”。2013年USB 3.1（10Gbps）與Type-C橫空出世,，正反盲插設(shè)計風靡全球,。2019年USB4（40Gbps）融合雷電協(xié)議，實現(xiàn)動態(tài)帶寬分配,，一纜兼容數(shù)據(jù),、視頻與快充。如今,，USB從單一接口發(fā)展為智能生態(tài)核心,，支持PD 100W供電、擴展塢互聯(lián),，并持續(xù)向80Gbps（USB4 v2.0）突破,。其成功源于開放協(xié)作與用戶至上理念，成為連接數(shù)字世界的隱形橋梁,。

二,、軟件上的需求

       軟件上，主要是關(guān)注信號完整性,，每個高速互連技術(shù)都繞不開信號完整性（Signal Integrity）,，信號完整性可以看出數(shù)據(jù)傳輸過程中有沒有變形，主要關(guān)注兩個方向,，一個是頻域傳輸指標,，另一個是時域指標，其中頻域指標有：插損(IL),、回損(RL),、串擾(NEXT, FEXT)、模式轉(zhuǎn)換(Mode Conversion),、屏蔽效應(yīng)(EMI, RFI),，時域指標有：時域阻抗(Impedance)、上升時間(Rise Time)、時間差(Skew),、振鈴(Ringing: overshoot, undershoot),、電平(Level)、抖動(Jitter),、眼圖(Eye Diagram),、誤碼率(BER)。 以上這些指標,，需要基于硬件上采樣成功的前提下,。

三、USB互連技術(shù)測試

       硬件上主要根據(jù)接口版本,，選擇合適帶寬和端口數(shù)的網(wǎng)絡(luò)分析儀,，網(wǎng)絡(luò)分析儀內(nèi)置信號源和接收機，可以很好的測試插入損耗,、回波損耗等S參數(shù),，這和信號完整性需要的硬件基礎(chǔ)相契合，所以成了大家的選擇,，此外還需要制作相應(yīng)的夾具,，引出數(shù)據(jù)傳輸通道,。其實不局限于USB傳輸線纜,，像802.3、PCIe這種多通道接口,，也可以用網(wǎng)絡(luò)分析儀去測試,，不同的是他的接口很多，所以常常會搭配開關(guān)矩陣,。