電壓擊穿試驗(yàn)過程中假擊穿現(xiàn)象的發(fā)生
在電壓試驗(yàn)中,,假擊穿現(xiàn)象是一種看似絕緣材料發(fā)生擊穿,,實(shí)則并非真正擊穿的特殊情況。
從本質(zhì)上講,,當(dāng)對(duì)試品施加電壓時(shí),,假擊穿是由于試品表面或內(nèi)部的某些雜質(zhì)、氣隙等在電場(chǎng)作用下發(fā)生局部放電,。這些局部放電產(chǎn)生的電荷積累或等離子體通道的形成,,可能暫時(shí)導(dǎo)致試品的絕緣電阻急劇下降,從而引發(fā)電流的突然增大,,給觀察者造成類似擊穿的假象,。例如,在測(cè)試一些具有復(fù)雜結(jié)構(gòu)或表面存在污穢的絕緣材料時(shí),,表面的微小顆?;蚋街碾s質(zhì)在電場(chǎng)中極化、移動(dòng),,形成導(dǎo)電路徑,,使得電流瞬間上升,,但此時(shí)材料內(nèi)部的主體絕緣結(jié)構(gòu)仍保持完整,并未發(fā)生貫穿性的擊穿破壞,。又如在含有氣隙的絕緣試品中,,氣隙內(nèi)的氣體在高電場(chǎng)下發(fā)生電離,產(chǎn)生局部放電,,等離子體的形成使該區(qū)域的導(dǎo)電性增強(qiáng),,導(dǎo)致整體電流變化,但周圍的絕緣材料并未被擊穿,,一旦放電停止,,絕緣性能又會(huì)恢復(fù)。
這種假擊穿現(xiàn)象會(huì)對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確判斷造成干擾,,需要通過仔細(xì)分析試驗(yàn)回路的電壓,、電流波形變化,以及對(duì)試品進(jìn)行后續(xù)的檢查和重復(fù)試驗(yàn)等方法來加以甄別,,以準(zhǔn)確評(píng)估試品的真實(shí)絕緣性能,,區(qū)分其是真正的絕緣擊穿還是假擊穿情況。
擊穿電壓試驗(yàn)儀的工作原理主要是基于電場(chǎng)強(qiáng)度和介質(zhì)強(qiáng)度之間的關(guān)系,,當(dāng)電場(chǎng)強(qiáng)度超過介質(zhì)的耐壓強(qiáng)度時(shí),,介質(zhì)就會(huì)發(fā)生擊穿現(xiàn)象。其主要由調(diào)壓器傳動(dòng)機(jī)構(gòu),、高壓電極和試驗(yàn)夾具等組成,,采用交流高壓法或直流高壓法測(cè)量絕緣材料的擊穿電壓值。以交流高壓法為例,,在室溫下,,試驗(yàn)儀在被測(cè)材料的兩電極之間,以一定的升壓速度從零開始施加頻率為 50Hz 的交流試驗(yàn)電壓,,當(dāng)升壓至材料擊穿,,此時(shí)的試驗(yàn)電壓值即為該材料的擊穿電壓值。
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