探測器類型：硅光二極管。

測量波長范圍：300 - 390nm,。

峰值靈敏度波長：約 355nm,。

探測器窗口直徑：φ3mm。

測量功能豐富：具備實時照度測量,、峰值測量,、累計光量測量、偏差測量等多種功能,，可滿足不同場景下對紫外線測量的需求,。

使用便捷：裝置采用耐熱金屬機身，附帶耐熱蓋,，能在一定程度上抵御高溫環(huán)境,，確保測量更穩(wěn)定。設有根據(jù)光源照度設定最佳范圍的自動模式,，操作更加簡單方便,，提高了測量效率,。通過安裝 2m 延長裝置（另售），可將受光部設置在遠程位置進行測量,，增加了測量的靈活性,。

數(shù)據(jù)處理與輸出方便：標準配備內(nèi)置存儲器、USB 輸出,、模擬輸出,，可方便地存儲和傳輸測量數(shù)據(jù)。標配可在 PC 上使用的測量程序,，便于對測量數(shù)據(jù)進行進一步的分析和處理,。

供電方式靈活：支持 USB 總線供電操作，也可使用 3 節(jié) AAA 電池（市售）供電,，方便在不同環(huán)境下使用,。

輻照度顯示范圍：分為多個量程，分別是 0.01 - 60.0mW/cm2,、0.1 - 600.0mW/cm2,、1 - 6000mW/cm2。

積分輻照度范圍：分為多個量程,，分別是 0.01 - 999.99mJ/cm2,、0.1 - 9999.9mJ/cm2、1 - 99999mJ/cm2,。

模擬輸出：不同量程下,，1mV 對應的輻照度分別為 0.03mW/cm2、0.3mW/cm2,、3mW/cm2,。

校準精度：±2%。

線性度：±3%,。

數(shù)據(jù)采樣：50Hz 時采樣時間為 10ms,，采樣率為 50 次 / 秒；60Hz 時采樣時間為 8.33ms,，采樣率為 60 次 / 秒,。

工業(yè)生產(chǎn)：適用于電氣和電子元件的固化、密封和粘合處理過程中紫外線照射設備的燈強度管理,。在印刷電路板的印刷、干燥和安裝線中,，可用于監(jiān)測紫外線照射設備,，確保紫外線照射強度符合工藝要求。也可用于半導體,、FPD 等光刻工藝中,，管理光刻設備中的曝光燈,，保證光刻工藝的精度和一致性。

設備維護：適用于各種 UV 照射設備 UV 燈的維護和管理,，如 UV 消毒設備,、滅菌設備、改性設備,、固化設備,、清洗設備、表面處理設備等,。通過定期測量紫外線強度,，可及時發(fā)現(xiàn) UV 燈的老化或故障，以便及時更換或維修,，保證設備的正常運行,。

研發(fā)與制造：在各種 UV 燈開發(fā)部門、制造工序中,，可用于檢查及評估 UV 燈的性能,，幫助優(yōu)化 UV 燈的設計和生產(chǎn)工藝。