激光金屬沉積(LMD)裂紋檢測:實(shí)時(shí)溫度曲線準(zhǔn)確識別裂紋位置
本篇文章主要分享利用紅外單色高溫計(jì)IGA320/23-LO(IMP)對(工業(yè)級)激光金屬沉積(LMD)過程中的裂紋進(jìn)行實(shí)時(shí)在線檢測的方法。激光金屬沉積技術(shù)是一種先進(jìn)的增材制造技術(shù),,但在制造過程中容易產(chǎn)生裂紋和氣泡等缺陷,,這些缺陷如果未及時(shí)檢測和修復(fù),可能造成嚴(yán)重的損失,。
通過設(shè)計(jì)一個(gè)實(shí)驗(yàn)平臺,,利用IMP對316L奧氏體不銹鋼LMD樣品上的模擬裂紋進(jìn)行了檢測實(shí)驗(yàn)。研究發(fā)現(xiàn),,通過IMP記錄的溫度變化曲線能夠準(zhǔn)確識別裂紋位置,,并且裂紋深度越大,記錄的溫度峰值也越高。因此,,論文提出的方法能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控LMD過程中的裂紋生成,、大小和位置,從而及時(shí)發(fā)現(xiàn)并消除缺陷,。
具體而言,,論文的研究成果和方法特點(diǎn)包括:
裂紋檢測原理:
激光金屬沉積過程中,熔池表面高溫快速冷卻導(dǎo)致產(chǎn)生大的溫度梯度,,從而產(chǎn)生熱應(yīng)力和結(jié)構(gòu)應(yīng)力,,這些應(yīng)力疊加導(dǎo)致裂紋的產(chǎn)生。IMP通過監(jiān)測沉積表面的溫度變化,,可實(shí)時(shí)檢測出這些裂紋,。
實(shí)驗(yàn)方法與裝置:
構(gòu)建了實(shí)時(shí)在線的IMP檢測裝置,通過步進(jìn)電機(jī)控制掃描,,采集樣品表面不同位置的溫度數(shù)據(jù),。溫度的明顯變化可以表明裂紋的存在。
一,、IGAR 12-LO高精度紅外雙色高溫計(jì)
測溫場景:
應(yīng)用場景:
在早期的激光金屬沉積(LMD)缺陷檢測研究中,,研究者利用IGAR 12-LO雙色高溫計(jì)掃描樣品表面,以探測可能存在的缺陷(如裂紋)導(dǎo)致的溫度變化,。具體測量情況:
當(dāng)試件表面溫度處于385至450 °C時(shí),,若表面存在裂紋等缺陷,用該雙色高溫計(jì)掃描時(shí)能夠捕獲到由缺陷引起的溫度變化,。存在的問題:
此類雙色高溫計(jì)價(jià)格昂貴,,增加了設(shè)備的使用成本,尤其在工業(yè)生產(chǎn)中不利于大規(guī)模普及應(yīng)用,。
測溫范圍為350–1300 °C,,如果LMD制造的樣品較大,其表面溫度常常低于350 °C,,此時(shí)IGAR 12-LO雙色高溫計(jì)無法實(shí)施測溫,。
溫度測量范圍局限:
成本問題:
二、紅外單色高溫計(jì) (Infrared Monochrome Pyrometer, IMP)
測溫場景:
應(yīng)用場景:
本論文重點(diǎn)研究了一種新型的裂紋在線檢測方法,,采用IMP實(shí)時(shí)監(jiān)測激光金屬沉積過程中的溫度變化,,以準(zhǔn)確判斷裂紋的生成及其具體位置與尺寸。實(shí)驗(yàn)平臺與實(shí)際測量過程:
將紅外單色高溫計(jì)(型號為IGA320/23-LO IMPAC® Pyrometer)安裝于LMD噴嘴一側(cè),,通過步進(jìn)電機(jī)控制光學(xué)探頭掃描試件表面,。
試驗(yàn)中,在溫控加熱爐基板上放置激光沉積制備的316L奧氏體不銹鋼試件,。采用底部加熱電阻絲,使試件底部維持在約175至230 °C,輔助加熱保證一定基底溫度,。
實(shí)驗(yàn)利用光學(xué)探頭掃描試件表面,,實(shí)時(shí)采集溫度數(shù)據(jù)。當(dāng)掃描到試件表面模擬裂紋缺陷位置時(shí),,會出現(xiàn)明顯的溫度峰值變化,。
具體測量情況與效果:
在掃描過程中,無缺陷表面溫度變化較為平穩(wěn),,溫差不超過5 °C,。
當(dāng)表面存在裂紋時(shí),探測位置的溫差可高達(dá)約30 °C,,出現(xiàn)明顯溫度峰值,,利用這一特征能夠準(zhǔn)確定位裂紋。
實(shí)驗(yàn)?zāi)M了4條寬度與深度各異的裂紋,,證實(shí)裂紋深度越大,,記錄的溫度峰值越高。
該測量系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)對裂紋位置,、尺寸和深度的實(shí)時(shí)監(jiān)測,,有效地避免了以往技術(shù)中的局限性,如高成本,、環(huán)境危害和外界干擾等問題,。
兩款高溫計(jì)測溫場景對比總結(jié):
對比維度
IGAR 12-LO雙色高溫計(jì)
IGA320/23-LO紅外單色高溫計(jì) (IMP)
測溫對象 | LMD試件表面裂紋(早期研究) | LMD試件表面裂紋(本研究) |
溫度范圍 | 385–450 °C效果較好,但低于350 °C無法測量 | 150–1200 °C,,適用于更寬溫度范圍,,更實(shí)用 |
應(yīng)用成本 | 較高 | 較低,適合工業(yè)規(guī)模應(yīng)用 |
裂紋檢測精確性 | 對中高溫裂紋能識別,,但低溫范圍不能識別 | 對各溫度范圍裂紋均能精準(zhǔn)識別,,且可實(shí)時(shí)在線監(jiān)測裂紋尺寸及位置 |
實(shí)際工業(yè)場景適用性 | 有局限性(成本高、適用范圍窄) | 適用性廣,、成本低,,能實(shí)時(shí)監(jiān)測,有利于廣泛工業(yè)應(yīng)用 |
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