摘要：指出了基于特征狀態(tài)數(shù)據(jù)的接觸式高壓斷路器機(jī)械特性測試儀存在的問題,，提出了基于過程測量的非接觸式高壓斷路器機(jī)械特性測試儀測試解決方案的優(yōu)勢，并對其組成單元及主要技術(shù)指標(biāo)進(jìn)行了介紹。
　　關(guān)鍵詞：高壓斷路器,；機(jī)械特性；過程測量,；非接觸
　　1概述
　　高壓斷路器機(jī)械特性測試是開關(guān)生產(chǎn),、安裝、調(diào)試過程中*的一項(xiàng)內(nèi)容,，對于檢測,、鑒定斷路器的機(jī)械特性有重要的意義。固有分（合）閘時(shí)間,、速度和行程,、操作電源質(zhì)量（操動(dòng)繞組的I—U曲線）是高壓斷路器能否可靠工作的重要參數(shù)。由于高壓斷路器的動(dòng)作時(shí)間短,，動(dòng)作時(shí)振動(dòng)大,，早期的檢測裝置由于采樣技術(shù)和傳感器技術(shù)的水平所限，對于這些瞬變參數(shù)的檢測,，尤其是對速度和位移的檢測缺乏可信的檢測手段,；隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的發(fā)展，目前出品的新型斷路器開距小,、速度快,，對高壓斷路器機(jī)械特性測試儀的要求更加苛刻。因此,，市場迫切需要一種具有*測試原理,、現(xiàn)場操作方便、測量數(shù)據(jù)可靠的新型高壓斷路器測試儀器,。推薦使用陜西伊科電力技術(shù)有限公司生產(chǎn)的GKC-VI高壓開關(guān)機(jī)械特性測試儀,。
　　隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)和傳感器技術(shù)的發(fā)展，為基于過程測量的非接觸高壓斷路器機(jī)械特性測試儀的實(shí)現(xiàn)提供了可能。經(jīng)過反復(fù)的市場調(diào)研和對位移傳感器現(xiàn)狀及發(fā)展趨勢的長期跟蹤,，陜西伊科電力技術(shù)有限公司,、西安高壓*變電修試所、焦作電廠檢修分廠聯(lián)合提出了基于過程測試的非接觸式高壓斷路器機(jī)械特性測試儀的實(shí)施方案,，并經(jīng)過近一年的研制,、試驗(yàn)取得了令人滿意的效果。GKC-VI高壓開關(guān)機(jī)械特性測試儀根據(jù)國標(biāo)GB3309—1989和GB1984—1989標(biāo)準(zhǔn)中有關(guān)檢測項(xiàng)目和術(shù)語定義進(jìn)行設(shè)計(jì)制造,，它所能檢測的項(xiàng)目和數(shù)據(jù)的處理均優(yōu)于有關(guān)國家標(biāo)準(zhǔn),，對速度和位移的測量方法*，傳感器不必與斷路器的動(dòng)作連桿接觸,，使得現(xiàn)場測量既方便又可靠,，并且可實(shí)現(xiàn)過程測量，改變了以往狀態(tài)測量法的不足,。
　　2基于特征狀態(tài)測量法
　　狀態(tài)測量是指檢測裝置對被測參數(shù)的分析,、處理和判斷只能基于一些特定的狀態(tài)數(shù)據(jù)，而對其他非特征狀態(tài)數(shù)據(jù)不作記錄和響應(yīng),。目前對高壓斷路器機(jī)械特性的測試,，普遍采用的是這種基于特征狀態(tài)數(shù)據(jù)的接觸式測試儀。這種測試儀原理簡單,，易于實(shí)現(xiàn),，但卻只能對設(shè)備被測參數(shù)的粗略情況作出定性的判斷。它除了在固有分合閘的測量上能夠讓人接受外,，在區(qū)分機(jī)械動(dòng)作時(shí)間,、電氣響應(yīng)時(shí)間方面無能為力，對其他類參數(shù)的測試也不盡人意,。
　　雖然隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的普及,，目前許多電氣測量設(shè)備都已數(shù)字化，但是限于當(dāng)時(shí)儀器開發(fā)時(shí)計(jì)算機(jī)技術(shù)和傳感器技術(shù)的水平,，許多測量設(shè)備的測試原理基本是從數(shù)字化的角度對傳統(tǒng)模擬測試方法進(jìn)行簡單的重新解釋,，并沒有充分挖掘數(shù)字測量方式在數(shù)據(jù)存儲、處理方面的優(yōu)勢而作出適當(dāng)?shù)耐庋雍凸δ軘U(kuò)充,，傳統(tǒng)高壓斷路器機(jī)械特性測試儀也不例外,。GKC-VI高壓開關(guān)機(jī)械特性測試儀內(nèi)置windows操作系統(tǒng)，使用方便,。
　　基于狀態(tài)測量的GKC-VI高壓開關(guān)機(jī)械特性測試儀對一些動(dòng)態(tài)特性測試,、擾動(dòng)頻繁、多參數(shù)聯(lián)合衡量的測試不能很好地滿足要求,。
　?。?）對斷路器固有時(shí)間的測試,。從定義上看，固有時(shí)間是指斷路器從發(fā)出動(dòng)作命令到*個(gè)斷口分開或接觸之間的時(shí)間,，其曲線見圖1,，對于電路響應(yīng)時(shí)間和裝置本身的固有動(dòng)作時(shí)間不作區(qū)分,。固有時(shí)間的計(jì)時(shí)起點(diǎn)由操作指令觸發(fā),，計(jì)時(shí)停止由*個(gè)狀態(tài)改變的斷口信號觸發(fā)，即固有時(shí)間T=t1+t2,，從操作繞組的電壓曲線看,，時(shí)間t1是電路響應(yīng)時(shí)間，合理的講,，斷路器的固有動(dòng)作時(shí)間應(yīng)該以zui后一個(gè)斷口的位置改變?yōu)榻Y(jié)束,，由于狀態(tài)測試的局限性，迫使我們在該測試中忽略了電路的響應(yīng)時(shí)間和斷口不同期時(shí)間,，這其實(shí)是一個(gè)折中的妥協(xié)方案,。
　　（2）對速度測試,。速度是個(gè)時(shí)刻量,，目前多采用走完固定位移花掉多少時(shí)間的方式獲得一個(gè)平均值，位移—時(shí)間曲線見圖2,。由于采用狀態(tài)測試需要明確的狀態(tài)標(biāo)志,，因此指令發(fā)出時(shí)刻自然成了位移運(yùn)動(dòng)的起點(diǎn)，而速度只能通過V=S1/（t1+t2）的方式獲得,。因?yàn)?，在狀態(tài)測試中，t1時(shí)刻或者說動(dòng)作原點(diǎn)時(shí)刻的特征不明顯,，無法捕捉到,；另外，在S1對應(yīng)的t2時(shí)間內(nèi)缺乏狀態(tài)測試需要給出的狀態(tài)標(biāo)志,。所以,，只好通過平均值獲得速度，這與以運(yùn)動(dòng)時(shí)刻為基準(zhǔn)定義的剛分/剛合速度的定義是相違背的,。
　?。?）對操作電源的性能測試。斷路器是否能夠正確動(dòng)作,，既有來自其自身的原因,，也有來自操作電源的原因（如操作電源容量不足、蓄電池老化或?qū)Ь€截面小等）,。如何判斷原因來自哪個(gè)因素,，用狀態(tài)測量不可能對操作電源的性能作出測試，因?yàn)樵跔顟B(tài)測試思維中根本不考慮操作中發(fā)生了什么事情，但是如果我們能夠基于過程測試的思維將操作過程中操動(dòng)繞組的I—U曲線記錄下來,，見圖3,，就能分析出問題所在。
　　3基于過程測量法
　　3.1過程測量
　　所謂過程測量是相對于狀態(tài)測量而言的,，其核心有2個(gè):①對被測參數(shù)作全過程記錄,；②所有被測參數(shù)基于同一參考系，可以實(shí)現(xiàn)相關(guān)參數(shù)的互相關(guān)聯(lián),。在過程測量的思維里,，放棄了傳統(tǒng)的事件標(biāo)定方法（特征狀態(tài)或特征數(shù)據(jù)），所有被測量基于同一個(gè)參考系（多為時(shí)間參考系）,，所有事件的處理都基于這個(gè)參考系,，并且同等持續(xù)地對待整個(gè)測試中的所有狀態(tài)或數(shù)據(jù)，這即簡化了測試邏輯,，也為相關(guān)量之間的互相標(biāo)定創(chuàng)造了可能,。用過程測量的思維處理上述三個(gè)問題顯得十分簡單。
　?。?）在斷路器固有時(shí)間的測試中,，由于我們同時(shí)全過程記錄了斷口的狀態(tài)轉(zhuǎn)變和操作繞組電壓的變化曲線，且這兩個(gè)量有統(tǒng)一的時(shí)間坐標(biāo),，因此,，很容易獲得電路響應(yīng)時(shí)間和斷路器自身的動(dòng)作時(shí)間。
　?。ǎ玻┰谒俣葴y試中,，我們能夠地把計(jì)時(shí)時(shí)間起點(diǎn)和位移時(shí)刻原點(diǎn)統(tǒng)一在一起，不必象狀態(tài)測試中那樣把計(jì)時(shí)時(shí)間起點(diǎn)定義在操作指令發(fā)出時(shí)刻,，更為重要的是可以通過位移時(shí)間曲線切線斜率的方式求出任意時(shí)刻的即時(shí)速度,，而不再是平均速度。另外,，觸頭的彈跳情況也能在位移—時(shí)間曲線中再現(xiàn)出來,。（3）通過對操作繞組上電壓、電流曲線的全過程記錄及其他參數(shù)的關(guān)聯(lián)記錄,，可以明確區(qū)分到底是操作電源問題還是操作機(jī)構(gòu)問題,，并且還能對繞組的電氣特性和操作電源的性能作出科學(xué)的評價(jià)。
　　其實(shí),，電氣設(shè)備在激勵(lì)源的激勵(lì)下達(dá)到某個(gè)狀態(tài)的過渡過程中會表現(xiàn)出很多有價(jià)值的信息,，這些信息往往比穩(wěn)定的狀態(tài)信息更有價(jià)值，以前限于測試手段,、技術(shù)水平的原因,，沒有對過渡信息進(jìn)行記錄和利用,，隨著技術(shù)的發(fā)展，對過渡信息進(jìn)行記錄已經(jīng)變成可能,。
　　3.2非接觸方式
　　利用過程測量方式,，GKC-VI高壓開關(guān)機(jī)械特性測試儀不僅可實(shí)現(xiàn)對參數(shù)的科學(xué)測試，還可實(shí)現(xiàn)對高壓斷路器機(jī)械特性中位移,、速度的非接觸測試,。
　　目前，GKC-VI高壓開關(guān)機(jī)械特性測試儀在位移,、速度的測試方面基本都采用接觸方式來獲得高壓斷路器的位移,、速度信息,，也就是必須將位移傳感器接觸安裝在斷路器的聯(lián)動(dòng)部分,，通過接觸斷路器的運(yùn)動(dòng)來感受其運(yùn)動(dòng)信息。由于高壓斷路器的結(jié)構(gòu)和形狀各異,，因此該方式在現(xiàn)場的測試中十分困難,，甚至不可能實(shí)現(xiàn)。
　　利用光反射偏移原理可實(shí)現(xiàn)對高壓斷路器速度,、位移的非接觸測試,。光電測量位移、速度原理圖見圖4,。
　　從圖4中可以看出,，被測物體在從位置h2運(yùn)動(dòng)到位置h1時(shí)，通過被測物體反射到測試平面的光線從S2運(yùn)行到S1,，通過幾何關(guān)系很容易算出被測物體的位移h=h1-h2與測試平面的感受位移S=S1-S2之間的關(guān)系h=S/（2tgθ）由于θ值是已知的,，S是可測量的，所以,，可以通過反射光的偏移位移得到被測物體本身的位移h,。由于光的速度很快，只要測試平面的掃描速度足夠快（20kHz即50μs）即能夠?qū)\(yùn)動(dòng)物體的位移,、速度實(shí)現(xiàn)非接觸測試,。
　　實(shí)現(xiàn)位移、速度非接觸測試的好處:①不需現(xiàn)場煩瑣的安裝,；②適應(yīng)所有的結(jié)構(gòu)（不包括沒有外露聯(lián)動(dòng)機(jī)構(gòu)的）,；③免受劇烈震動(dòng)的干擾；④不對斷路器的動(dòng)作造成任何障礙,。
　　
　　4過程測量儀的組成
　?。?）電源單元：交流電源輸入，操作電源為交直流48～250V連續(xù)可調(diào),，zui大輸出電流可達(dá)20A,，當(dāng)被測斷路器分合閘回路的電流超過此電流值時(shí)可外接操作電源,。穩(wěn)壓電源（恒壓源）具有體積小、質(zhì)量輕,、輸出電流大,、精度高及穩(wěn)定性能好等特點(diǎn)。由于操作電源與特性參數(shù)測量溶為一體,，可直接控制斷路器合閘,、分閘，同時(shí)將所有特性參數(shù)一并測出,，并顯示或打印測量結(jié)果,。
　　（2）測量單元：測量單元包括行程（或位移）測量回路,、計(jì)時(shí)回路,、開關(guān)量（斷口分合）接入回路，斷路器只需動(dòng)作一次就可獲得相應(yīng)操作的所有測量數(shù)據(jù),。
　?。?）*處理單元：將各測量參數(shù)按照預(yù)先輸入的程序進(jìn)行運(yùn)算，判斷,，并負(fù)責(zé)儀器內(nèi)各單元之間的通信,、、協(xié)調(diào),，故障診斷,，接受和發(fā)出指令。
　?。?）輸出單元：具有大屏幕觸摸顯示器,，可用漢字顯示全部機(jī)械特性參數(shù)，寬幅打印機(jī)直接鑲?cè)朊姘?，可以表格形式漢字打印全部合分參數(shù),；可漢字顯示接線出錯(cuò)、拒合和拒分,、數(shù)據(jù)溢出等各種故障,。
　　5主要技術(shù)指標(biāo)
　　掃描時(shí)間范圍0～1000ms，精度80μs,；位移范圍0～400mm（100～500mm）,，精度0.01mm；操作電壓輸入范圍DC-400～+400V,，精度0.5V,；操作電流輸入范圍0～120A，精度0.02A,；采樣頻率大于10kHz,；數(shù)據(jù)存儲空間6MB（可擴(kuò)充至14～30MB）,；模擬量通道8路（4～20mA、0～5V,、0～10V可選）,；開關(guān)量通道8路開入，6路開出,；工作電源電壓AC220±10%,；儀器zui大功耗150W；工作環(huán)境溫度-20～+85℃,；相對濕度不大于80%,。
　　6結(jié)束語
　　由于基于過程測試的非接觸高壓斷路器GKC-VI高壓開關(guān)機(jī)械特性測試儀，掃描,、跟蹤,、記錄了開關(guān)動(dòng)作的全部過程，并將相關(guān)參數(shù)統(tǒng)一在同一參考系（時(shí)間）下,，不僅可以對開關(guān)的控制回路,、操作機(jī)構(gòu)的響應(yīng)結(jié)果作出判斷,，還可以對過渡過程進(jìn)行再現(xiàn),，這對于深入、全面地研究開關(guān)的動(dòng)作性能有著重要的意義,，同時(shí)由于實(shí)現(xiàn)了速度,、位移的非接觸測量，為現(xiàn)場高壓斷路器的速度,、位移測試提供了簡單,、實(shí)用、科學(xué)的測試手段,。