日本Yamada高強度鹵素燈YP-150I & YP-250I專業(yè)介紹

1. 產(chǎn)品概述

日本Yamada推出的YP-150I和YP-250I高強度鹵素燈,，專為高精度表面缺陷檢測設(shè)計，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體晶片,、液晶基板,、光學(xué)玻璃等精密制造領(lǐng)域,。兩款產(chǎn)品均采用高亮度鹵素光源，結(jié)合冷鏡技術(shù),，在保證超高照度的同時大幅降低熱影響,，確保檢測的穩(wěn)定性和準確性。

2. 核心技術(shù)特點

（1）超高亮度照明

• 照度≥400,000Lx，遠超常規(guī)照明設(shè)備,，可清晰識別僅靠精密儀器才能檢測的微米級缺陷（如劃痕、異物,、拋光不均等）,。

• 色溫達3400K，光線均勻銳利,，減少照明不均導(dǎo)致的誤判,。

（2）冷鏡技術(shù)（Cold Mirror Technology）

• 相比傳統(tǒng)鋁鏡,，熱影響降低50%~67%,，有效防止設(shè)備變形及樣品熱損傷,。

• 延長設(shè)備使用壽命,，適用于熱敏感材料（如液晶面板、光學(xué)鍍膜等）,。

（3）兩段式光強切換

• 一鍵切換高/低照明模式,，適應(yīng)不同檢測需求（如高對比度檢測或長時間觀察）,。

3. 產(chǎn)品參數(shù)對比

4. 典型應(yīng)用場景

（1）半導(dǎo)體行業(yè)

• 晶圓缺陷檢測：硅片,、砷化鎵、碳化硅等材料的劃痕、霧狀污染,、拋光不均等。

• 封裝工藝檢查：芯片表面異物,、微裂紋等,。

（2）液晶顯示行業(yè)

• 液晶基板檢測：發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)過程中的顆粒污染、劃傷,、鍍膜缺陷等,。

• OLED面板質(zhì)檢：高亮度照射下識別像素異常,、Mura缺陷。

（3）光學(xué)玻璃行業(yè)

• 鏡片/透鏡檢測：檢測氣泡,、雜質(zhì),、微小劃痕,，確保光學(xué)性能。

• 鍍膜質(zhì)量分析：觀察膜層均勻性及附著缺陷,。

5. 選型指南

6. 結(jié)論

Yamada YP-150I和YP-250I高強度鹵素燈憑借超高亮度,、冷鏡降溫、靈活光強調(diào)節(jié)等優(yōu)勢,，成為精密制造業(yè)表面檢測的理想選擇,。

• YP-150I：適用于小尺寸、高精度,、低熱影響場景，經(jīng)濟性更佳,。

• YP-250I：適合大范圍,、遠距離,、高亮度需求,，兼顧效率與性能。

用戶可根據(jù)檢測對象尺寸,、環(huán)境條件及預(yù)算選擇最適配型號,，以優(yōu)化質(zhì)檢流程并提升良品率。