菲希爾熒光測厚儀 XULM240 基于 X 射線熒光光譜分析原理來測量鍍層厚度，具體如下：

X 射線激發(fā)：儀器中的微聚焦 X 射線管產(chǎn)生高強(qiáng)度的 X 射線束,，當(dāng) X 射線照射到被測樣品表面時,，會激發(fā)樣品中的原子。對于鍍層和基體材料,，由于它們的原子種類不同,，原子結(jié)構(gòu)也存在差異。

熒光產(chǎn)生：被激發(fā)的原子會從高能級躍遷到低能級,，同時輻射出具有特定能量和波長的 X 射線熒光,。不同元素發(fā)出的熒光 X 射線具有特的能量特征，就像人的指紋一樣,，是每種元素所有的,。例如，金元素發(fā)出的熒光 X 射線能量與銅元素,、鎳元素等發(fā)出的能量是不同的,。

測量與分析：探測器收集并測量這些熒光 X 射線的能量和強(qiáng)度。根據(jù)不同元素?zé)晒?X 射線的能量可以確定樣品中存在的元素種類,，而熒光 X 射線的強(qiáng)度則與該元素在樣品中的含量有關(guān),。對于鍍層厚度的測量，通過測量鍍層元素和基體元素?zé)晒?X 射線的強(qiáng)度,，并與已知厚度的標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行對比,，再利用特定的算法和校準(zhǔn)曲線，就可以精確計算出鍍層的厚度,。

這種測量原理具有非接觸,、無損的優(yōu)點，能夠快速,、準(zhǔn)確地測量各種材料表面的鍍層厚度,，并且可以同時分析多種元素，適用于不同類型的鍍層和基體材料組合,，在工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制中具有廣泛的應(yīng)用,。