菲希爾 X 射線熒光鍍層測厚儀基于 X 射線熒光分析原理。當儀器發(fā)射的 X 射線照射到樣品表面時,，鍍層及基體材料中的原子會吸收 X 射線的能量，使內(nèi)層電子被激發(fā)并躍遷到高能級。當這些電子回到低能級時,，會釋放出具有特定能量的熒光 X 射線,。不同元素發(fā)射的熒光 X 射線能量不同，通過檢測這些熒光 X 射線的能量和強度,，結合儀器內(nèi)置的校準曲線和算法,，就可以精確測量出鍍層的厚度以及元素組成。

一）高精度測量

菲希爾 X 射線熒光鍍層測厚儀采用先進的探測器和信號處理技術,，能夠實現(xiàn)對鍍層厚度的高精度測量,。其測量精度可以達到微米甚至納米級別，能夠滿足各種精密工業(yè)生產(chǎn)的需求,。例如,，在電子元器件制造中，對于芯片引腳的鍍鎳,、鍍金層厚度的測量,，能夠確保鍍層厚度均勻且符合設計要求，從而提高電子元器件的性能和可靠性,。

（二）多元素分析

該儀器不僅可以測量鍍層厚度,，還能夠同時分析鍍層中的多種元素及其含量。通過對元素組成的分析,，可以判斷鍍層的質量和成分是否符合標準,。比如在珠寶制造行業(yè)，通過分析金銀飾品表面鍍層中的元素成分,，可以檢測出是否存在雜質或其他合金元素,，確保產(chǎn)品的純度和質量。

（三）非接觸式測量

采用非接觸式測量方式,，不會對樣品表面造成損傷,，適用于各種形狀和尺寸的樣品。無論是平面,、曲面還是不規(guī)則形狀的工件,，都可以進行準確測量。這在汽車制造,、航空航天等行業(yè)中具有重要意義,，因為這些行業(yè)的零部件往往具有復雜的形狀和高精度的要求。