菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240儀器特點
用途廣泛的鍍層厚度測量
通過組合高壓和濾片,可精準(zhǔn)測量極?。ㄈ?0 nm Au)至較厚(如100 μm Sn)的鍍層,,覆蓋多種厚度需求 ,。
高精度微聚焦技術(shù)
配備微聚焦X射線管,最小測量點可達(dá)100 μm,,適用于微小結(jié)構(gòu)(如連接器,、觸點)的精細(xì)檢測 。
高效計數(shù)率與穩(wěn)定性
比例計數(shù)器支持高達(dá)數(shù)千cps(每秒計數(shù)率),,確??焖贉y量和良好的重復(fù)精度,即使短時間測量也能保證結(jié)果可靠性 ,。
便捷的樣品放置設(shè)計
X射線源位于測量艙底部,,射線方向從下至上,結(jié)合大容量C型開槽艙體,,便于放置大尺寸或扁平樣品(如印刷線路板) ,。
靈活的測量配置
支持手動或自動切換準(zhǔn)直器與濾片,適應(yīng)不同鍍層材料和結(jié)構(gòu)(如多層鍍層,、同元素鍍種)
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