高低溫?zé)崃鲀x和接觸式高低溫沖擊設(shè)備有以下不同之處：

工作原理

• 高低溫?zé)崃鲀x：通過試驗機輸出的高溫或低溫氣流,，將被測試品罩住形成較密閉空間的測試腔，氣流在腔內(nèi)循環(huán)使樣品表面溫度發(fā)生劇烈變化,，從而完成相應(yīng)的高低溫沖擊試驗,。

• 接觸式高低溫沖擊設(shè)備：基于熱傳遞原理,，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現(xiàn)能量傳遞,，當(dāng)需要進行高溫或低溫沖擊測試時，通過緊密接觸的導(dǎo)熱介質(zhì)將熱量或冷量傳遞給待測試樣品,。

設(shè)備結(jié)構(gòu)與特點

• 高低溫?zé)崃鲀x：通常體積較大,，如HE - ATS750外形尺寸為寬790×高1600×深1080(mm)。有制冷與加熱系統(tǒng),、氣流控制等復(fù)雜結(jié)構(gòu),，可能需要配備干燥氣源等。

• 接觸式高低溫沖擊設(shè)備：一般采用桌面式設(shè)計,，體積小巧,，如成都中冷的ATC系列，可在室溫下直接操作,，插電即可使用,，無需冷水機、液氮等外圍輔助設(shè)備及耗材,，且具有防冷凝和防結(jié)霜功能,。

溫度控制與性能

• 高低溫?zé)崃鲀x：溫度控制范圍一般較廣，如HE - ATS750溫度控制范圍為-70℃~+250℃,，溫度轉(zhuǎn)換時間通常在10秒左右,，溫變速率可達30 - 40℃/min。

• 接觸式高低溫沖擊設(shè)備：溫度范圍也較寬,，如ATC860為-70℃到+200℃,，其升降溫速率快，如25℃至-40℃≤2Min,，溫度穩(wěn)定性可達±0.5℃,。

適用場景

• 高低溫?zé)崃鲀x：適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存,、PCB電路板IC,、光通訊等電子行業(yè)，以及材料科學(xué),、航空航天、汽車工業(yè)等領(lǐng)域的IC特性分析,、高低溫循環(huán)測試,、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗,。

• 接觸式高低溫沖擊設(shè)備：主要針對芯片可靠性測試,，尤其適用于對已焊接到PCB的芯片和使用Socket的芯片進行測試，可以單獨給某一顆芯片升降溫,，而不影響周邊其他器件,，方便問題的排除。