介電常數(shù)介質損耗試驗儀主要用于評估絕緣材料的電氣性能，其應用過程涵蓋樣品制備、參數(shù)設置、數(shù)據(jù)采集及結果分析等環(huán)節(jié)。測試前需根據(jù)標準規(guī)范（如GB/T 1409）制備平整,、無氣泡的片狀或圓柱形樣品,，厚度誤差控制在±2%以內,。樣品表面需經無水乙醇清潔并充分干燥,，避免殘留物影響介電特性。

操作時,，將樣品置于測量電極間,，通過氣動裝置施加0.5-1.0MPa的均勻壓力確保緊密接觸。儀器內置的LCR測量橋在設定頻率（50Hz-1MHz）下施加0.5-5V交流電壓,，同步檢測介質損耗因數(shù)（tanδ）和相對介電常數(shù)（εr）,。環(huán)境溫濕度需恒定（通常23±2℃，濕度<65%）,，必要時使用恒溫箱消除溫度漂移,。

測試中需注意消除邊緣效應，采用三電極系統(tǒng)時將保護電極接地,。對于非線性材料,，需記錄不同場強下的參數(shù)變化曲線。數(shù)據(jù)采集后,，通過Cole-Cole圖分析材料極化機制,，結合損耗峰位置判斷雜質離子遷移特性。定期使用標準電容器校準系統(tǒng)誤差,，確保測量精度優(yōu)于±1%,。

應用場景包括電力設備絕緣老化評估、電子基板材料選型,、高分子材料改性研究等,。特殊工況下可配合高低溫試驗箱進行-70℃至300℃的寬溫域測試，研究材料介電性能的溫度依存性。測試報告需包含介質損耗角正切值,、介電常數(shù)實部/虛部,、測試頻率及環(huán)境條件等完整參數(shù)。