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sanko-denshi膜厚計(jì)SWT-NEO 的介紹

來源:深圳九州工業(yè)品有限公司   2025年03月19日 13:55  
Sanko-Denshi(三光電機(jī))是一家知的名的日本公司,,專注于生產(chǎn)各種精密測(cè)量?jī)x器,,其中包括膜厚計(jì),。Sanko-Denshi的膜厚計(jì)SWT-NEO是一款用于測(cè)量薄膜厚度的高精度儀器,,廣泛應(yīng)用于電子,、半導(dǎo)體,、光學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域。以下是關(guān)于Sanko-Denshi膜厚計(jì)SWT-NEO的詳細(xì)介紹:

一,、產(chǎn)品概述

  • 品牌:Sanko-Denshi(三光電機(jī))
  • 型號(hào):SWT-NEO
  • 類型:光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x
  • 用途:用于測(cè)量各種薄膜的厚度,,包括透明薄膜,、金屬薄膜、半導(dǎo)體薄膜等,。

二,、工作原理

  • 光學(xué)干涉法:SWT-NEO采用光學(xué)干涉原理進(jìn)行膜厚測(cè)量,。通過發(fā)射一束激光到薄膜表面,,反射光和透射光之間會(huì)發(fā)生干涉現(xiàn)象,。通過分析干涉條紋的變化,可以精確計(jì)算出薄膜的厚度,。
  • 高精度測(cè)量:該方法具有高精度和高分辨率,能夠測(cè)量納米級(jí)厚度的薄膜,。

三,、功能特點(diǎn)

  • 高精度測(cè)量:能夠測(cè)量納米級(jí)厚度的薄膜,測(cè)量精度可達(dá)亞納米級(jí)別,。
  • 非接觸式測(cè)量:采用光學(xué)測(cè)量方法,,無需接觸樣品,避免對(duì)樣品造成損傷,。
  • 多種測(cè)量模式:支持多種測(cè)量模式,,包括單點(diǎn)測(cè)量、多點(diǎn)測(cè)量和掃描測(cè)量,。
  • 實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)分析:儀器內(nèi)置數(shù)據(jù)分析軟件,,能夠?qū)崟r(shí)顯示測(cè)量結(jié)果,并提供多種數(shù)據(jù)處理功能,。
  • 多種測(cè)量范圍:適用于不同厚度范圍的薄膜測(cè)量,,從納米級(jí)到微米級(jí)。
  • 用戶友好界面:配備大屏幕液晶顯示屏,,操作界面直觀易用,。
  • 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與輸出:可以存儲(chǔ)大量測(cè)量數(shù)據(jù),并通過USB接口將數(shù)據(jù)傳輸?shù)接?jì)算機(jī)進(jìn)行進(jìn)一步分析,。
  • 多種語言支持:支持多種語言顯示,,包括英語、日語,、中文等,。

四、技術(shù)規(guī)格

  • 測(cè)量范圍:納米級(jí)至微米級(jí)(具體范圍取決于薄膜材料和測(cè)量條件),。
  • 測(cè)量精度:亞納米級(jí)別,。
  • 測(cè)量速度:快速測(cè)量,適合高通量檢測(cè)。
  • 光源:激光光源,,波長可根據(jù)測(cè)量需求選擇,。
  • 測(cè)量模式:?jiǎn)吸c(diǎn)測(cè)量、多點(diǎn)測(cè)量,、掃描測(cè)量,。
  • 數(shù)據(jù)存儲(chǔ):可存儲(chǔ)大量測(cè)量數(shù)據(jù)。
  • 數(shù)據(jù)輸出:USB接口,,支持?jǐn)?shù)據(jù)傳輸?shù)接?jì)算機(jī),。
  • 電源:交流電源適配器。
  • 尺寸:緊湊型設(shè)計(jì),,便于實(shí)驗(yàn)室和現(xiàn)場(chǎng)使用,。
  • 重量:輕便,便于攜帶,。

五,、應(yīng)用領(lǐng)域

  • 半導(dǎo)體行業(yè):用于測(cè)量半導(dǎo)體薄膜的厚度,如硅片上的氧化層,、金屬層等,。
  • 電子行業(yè):用于測(cè)量電子元件上的薄膜厚度,如電容,、電阻等,。
  • 光學(xué)行業(yè):用于測(cè)量光學(xué)薄膜的厚度,如反射膜,、增透膜等,。
  • 材料科學(xué):用于研究新型薄膜材料的厚度和性能。
  • 科研領(lǐng)域:用于實(shí)驗(yàn)室研究和開發(fā)中的薄膜厚度測(cè)量,。

六,、操作步驟

  1. 準(zhǔn)備樣品:將待測(cè)樣品放置在測(cè)量平臺(tái)上,確保樣品表面平整,。
  2. 開機(jī):連接電源并打開儀器,,進(jìn)行自檢和初始化。
  3. 設(shè)置參數(shù):根據(jù)樣品的性質(zhì)和測(cè)量需求,,設(shè)置測(cè)量模式,、光源波長等參數(shù)。
  4. 開始測(cè)量:將激光對(duì)準(zhǔn)樣品表面,,按下測(cè)量鍵,,儀器自動(dòng)進(jìn)行測(cè)量。
  5. 讀取結(jié)果:測(cè)量完成后,,儀器會(huì)顯示薄膜的厚度和相關(guān)數(shù)據(jù),。
  6. 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與輸出:將測(cè)量結(jié)果存儲(chǔ)到儀器中,,或通過USB接口傳輸?shù)接?jì)算機(jī)進(jìn)行進(jìn)一步分析。

七,、優(yōu)勢(shì)

  • 高精度:采用光學(xué)干涉法,,測(cè)量精度高,重復(fù)性好,。
  • 非接觸式測(cè)量:無需接觸樣品,,避免對(duì)樣品造成損傷。
  • 多功能:支持多種測(cè)量模式和數(shù)據(jù)處理功能,,滿足不同用戶的需求,。
  • 便攜性:體積小、重量輕,,便于攜帶和現(xiàn)場(chǎng)使用,。
  • 操作簡(jiǎn)便:界面友好,操作簡(jiǎn)單,,易于上手,。
  • 實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)分析:內(nèi)置數(shù)據(jù)分析軟件,能夠?qū)崟r(shí)顯示測(cè)量結(jié)果并提供多種數(shù)據(jù)處理功能,。

八、附件

  • 標(biāo)準(zhǔn)配件:主機(jī),、測(cè)量平臺(tái),、電源適配器、USB數(shù)據(jù)線,、使用說明書等,。
  • 可選配件:專用軟件、校準(zhǔn)片等,。

九,、維護(hù)與保養(yǎng)

  • 清潔:定期清潔光學(xué)鏡頭和測(cè)量平臺(tái),避免灰塵和污漬影響測(cè)量結(jié)果,。
  • 校準(zhǔn):定期使用標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)片進(jìn)行校準(zhǔn),,確保儀器測(cè)量準(zhǔn)確。
  • 存儲(chǔ):存放于干燥,、清潔的環(huán)境中,,避免高溫、潮濕和強(qiáng)磁場(chǎng),。
Sanko-Denshi膜厚計(jì)SWT-NEO以其高精度,、非接觸式測(cè)量和多功能性,成為薄膜厚度測(cè)量的理想工具,,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體,、電子,、光學(xué)和材料科學(xué)等領(lǐng)域。


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