通常我們所指的探頭老化是指氧化鋯檢測器的老化,，主要表現(xiàn)在內(nèi)阻升高和本底電勢增大這兩項(xiàng)上：

　　(1)內(nèi)阻升高

　　實(shí)際運(yùn)用中,，探頭老化引起的內(nèi)阻增大較多,。內(nèi)阻是指信號(hào)線兩端間的輸入電阻，它是引線電阻,、電極與氧化鋯間界面電阻及氧化鋯體積電阻三部分之和，因此,，電極揮發(fā),、電極脫落和氧化鋯電解質(zhì)的反穩(wěn)（由穩(wěn)定氧化鋯變?yōu)椴环€(wěn)定氧化鋯），都將引起內(nèi)阻升高,。測量檢測器內(nèi)阻，可以判斷其老化情況,。根據(jù)經(jīng)驗(yàn),，當(dāng)內(nèi)阻增大到接近其使用極限shi,，將出現(xiàn)信號(hào)大跳動(dòng)現(xiàn)象，有些反應(yīng)為響應(yīng)遲緩的現(xiàn)象,。對于這些檢測器，其本底電勢不一定很大,。

　　(2)本底電勢增大

　　本底電勢是電池附加電勢,。引起本底電勢增大的因素有兩種：一種屬于永存因素,，它寄生的電池上,，如SO2和SO3的腐蝕作用,、電池不對稱因素,；另一種屬于暫存因素,，如電極各灰,、空氣對流差等因素,，一旦條件改善,，本底電勢便可降低,。

　　本底電勢的變大,，往往反映檢測器的老化程度，當(dāng)E0值超過分析儀的最大調(diào)節(jié)量時(shí),，就說明檢測器已經(jīng)損壞。

　　舉個(gè)例子：

　　一個(gè)氧化鋯，出廠時(shí)的E0為-5mV,其允許變化范圍為:-30mV，使用半年后,，變?yōu)?13mV；使用18個(gè)月后變?yōu)椋?29mV,；這種情況就表明，此檢測器已經(jīng)老化,，需要更換。

　　需要注意的是,，有些檢測器的老化表現(xiàn)在本底電勢變大上，而有些檢測器雖然老化,，但卻沒有這種現(xiàn)象，所以我們需要認(rèn)真分析對待,。當(dāng)本底電勢變大的原因是由暫存因素引起時(shí),，隨著使用時(shí)間的推移，則有可能出現(xiàn)本底電勢先變大,，再變小的現(xiàn)象,。

　　由于本底電勢增大而導(dǎo)致探頭老化的數(shù)量比內(nèi)阻增大數(shù)量要少，單純本底增大,，一般不會(huì)出現(xiàn)信號(hào)跳動(dòng)大的現(xiàn)象,。

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