電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)功能與應(yīng)用
系統(tǒng)概述
電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)是將環(huán)境試驗(yàn)箱與評(píng)估系統(tǒng)相結(jié)合,,高效采集數(shù)據(jù)的自動(dòng)化多通道系統(tǒng)。系統(tǒng)自動(dòng)評(píng)估高溫和高溫/高濕環(huán)境下電容器的絕緣退化特性,。系統(tǒng)通過精確控制溫度環(huán)境,,并測量電容器在不同溫度下的關(guān)鍵參數(shù)(如電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z)等參數(shù)值),,從而評(píng)估其溫度特性,。該系統(tǒng)通常具有高精度、高穩(wěn)定性和高可靠性的特點(diǎn),,能夠適用于各種類型的電容器,,包括多層陶瓷電容器(MLCC)、陶瓷電容,、薄膜電容等,。
應(yīng)用領(lǐng)域
通信與信息技術(shù):在通信設(shè)備和信息技術(shù)產(chǎn)品中,電容器也扮演著重要角色,。多通道電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)可以提供高效的測試方案,,確保產(chǎn)品在各種溫度環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。
電子材料:印刷電路板、通量,、絕緣材料(樹脂,、薄膜等)、介電材料(鈦,、陶瓷,、鉭、鋁電解材料等),。
產(chǎn)品優(yōu)勢
1.最多64個(gè)通道的自動(dòng)測量
可以測量不同溫度環(huán)境下的電容量 (C),、損耗因子(D) 和阻抗 (Z) 的多通道??梢赃x擇8個(gè)通道的倍數(shù),,最多64個(gè)通道。
2.圖形功能允許實(shí)時(shí)查看測量結(jié)果
收集的數(shù)據(jù),,包括不同溫度,、頻率和時(shí)間下的電特性值和變化率,可以通過各種圖形函數(shù)進(jìn)行實(shí)時(shí)審查,。
3.可從不同測試模式選擇
溫度特性評(píng)價(jià)試驗(yàn),、恒定運(yùn)行試驗(yàn)和頻率特性試驗(yàn)。測試可與溫度特性評(píng)價(jià)測試或恒定運(yùn)行測試相合,。
》 溫度特性評(píng)估測試
在此測試模式下,自動(dòng)記錄特性數(shù)據(jù),并與溫度變化同步,頻率步數(shù)201步(范圍可定制),。
》 持續(xù)運(yùn)行測試測試
模式測量以下參數(shù)的變化特定中隨時(shí)間推移的特征自動(dòng)記錄數(shù)據(jù)。
》 頻率特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)
試驗(yàn)?zāi)J皆谔囟囟拳h(huán)境下改變頻率的同時(shí),,自動(dòng)記錄不同頻率下的特性數(shù)據(jù),。
4.多種可選夾具 適用于不同的試驗(yàn)樣本(可選)
除了 SMD 組件的專用夾具外,還提供了根據(jù)離散設(shè)備形狀定制的夾具,。
技術(shù)指標(biāo)
1.測量項(xiàng)目:電容量 (C),、損耗系數(shù) (D)、阻抗 (Z),、電阻 (Rs,,Rp) 和電感 (Ls,Lp)
2.測試方法:溫度特性評(píng)價(jià)試驗(yàn)(相對(duì)于溫度的變化)
恒定運(yùn)行檢測(相對(duì)于檢測時(shí)間的變化)
頻率特性評(píng)價(jià)試驗(yàn) (相對(duì)于頻率的變化)
3.通道配置:8通道(標(biāo)準(zhǔn)),;最大值64通道可擴(kuò)展8通道增量
4.測量方法:交流四端對(duì)測量
5.測量范圍:測量頻率:20 Hz ~ 1 MHz
電容量 (C):50 pF ~ 5 mF
損失因子 (D):0.00001 ~ 9.99999
阻抗 (Z):0.00001Ω ~ 99.9999 MΩ
6.測量儀器:LCR 表 (可按需選擇型號(hào))
7.直流偏壓:0 ~ ±40V
8.溫度測量間隔:1 ℃
9.掃描周期:64通道可在1min之內(nèi)完成
10.頻率步長:201步(范圍可定制)
11.補(bǔ)償:短時(shí)補(bǔ)償,,開放補(bǔ)償
12.環(huán)境試驗(yàn)系統(tǒng)控制:使溫度數(shù)據(jù)采集與測量和的溫度控制同步,具有RS-485功能的環(huán)境測試系統(tǒng)
13.測量電纜:由聚四氟乙烯制成的同軸電纜 (特性阻抗 (Z),,50Ω,,95 pF/m)
相關(guān)產(chǎn)品
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