GRAPHTEC日本圖技數(shù)據(jù)記錄儀在半導(dǎo)體行業(yè)老化試驗的應(yīng)用案例,。

在半導(dǎo)體行業(yè),，老化試驗是檢驗產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性及長期性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié),。為了確保半導(dǎo)體產(chǎn)品在長期使用中的穩(wěn)定工作,，進行全面、持續(xù)的數(shù)據(jù)采集至關(guān)重要,。GRAPHTEC數(shù)據(jù)記錄儀憑借其出色的性能,，成為半導(dǎo)體行業(yè)老化試驗中的理想選擇。

老化測試

在老化測試過程中,，半導(dǎo)體產(chǎn)品的電壓,、電流、溫度等多個參數(shù)需要同時被監(jiān)測,，GRAPHTEC GL260 A-CN和GL860 A系列數(shù)據(jù)記錄儀可以提供10個到最高200通道,，能夠同時記錄多個參數(shù)。無論是靜態(tài)電流的監(jiān)測,，還是工作電流的動態(tài)變化,，GL-IV電流輸入模塊都能精準記錄。

此外,，GL260 A-CN和GL860 A系列數(shù)據(jù)記錄儀標配了約8G閃存,，使其能在滿足采樣速度下，能夠支持長時間的數(shù)據(jù)記錄,。通過大容量存儲,，測試人員無需頻繁導(dǎo)出數(shù)據(jù),，確保整個老化周期的連續(xù)性。長時間的數(shù)據(jù)存儲還有效避免了因數(shù)據(jù)丟失而影響測試結(jié)果的風(fēng)險,。

通過GRAPHTEC數(shù)據(jù)記錄儀,，半導(dǎo)體制造商能夠?qū)崟r跟蹤產(chǎn)品在老化過程中各項性能的變化，如電流波動,、溫度升高等,，及時發(fā)現(xiàn)潛在的質(zhì)量問題。這為產(chǎn)品的設(shè)計改進和質(zhì)量控制提供了重要的數(shù)據(jù)支持,，確保最終交付的產(chǎn)品符合高標準的質(zhì)量要求,。