太陽能電池研發(fā)與質量控制用太陽光譜儀S-2440 II
S-2440 II型主要用于測量太陽光模擬器的輻射光譜(包括脈沖光和穩(wěn)定光),并評估其與標準日照光譜的匹配度,。其設計緊湊,、成本低且雜散光少,,適合實驗室及工業(yè)場景中的太陽能電池研發(fā)與質量控制。
二,、技術特性
寬波長范圍與高靈敏度
測量波長覆蓋300-1100 nm,,適配硅基、染料敏化及有機薄膜太陽能電池的光譜需求,。
采用高靈敏度探測器和優(yōu)化光譜儀設計,,在紫外-近紅外波段具有更高的信噪比(SN)。
動態(tài)測量能力
脈沖光跟蹤:每1毫秒連續(xù)跟蹤光譜變化,,支持事件觸發(fā)模式,,可同步捕捉脈沖光發(fā)光前后的波形演變。
曝光時間調節(jié):接觸時間范圍為1-1,000毫秒,,滿足不同光源的測量需求,。
光學系統(tǒng)設計
反射擴散器采用PTFE材料,具備優(yōu)異余弦特性(擴散均勻性)和高耐久性,,適合長期使用35,。
光纖與反射擴散器一體化設計(不可拆卸),需在更換時重新校準,。
三,、應用領域
太陽能電池評估
測量太陽模擬器的光譜輻照度(μW/cm2/nm),判斷其是否符合JIS,、IEC,、ASTM等國際標準(如IEC 60904-9、ASTM AM1.5-2009),。
支持多類型電池測試,,包括晶體硅、非晶硅及多結太陽能電池,。
光源分析與環(huán)境監(jiān)測
自然陽光光譜測量,、實驗室恒定光源/脈沖光源的輻射特性分析。
四,、檢測優(yōu)勢
脈沖光同步技術
新增事件觸發(fā)模式,,通過光電二極管檢測脈沖信號,支持在任意時間點提取數(shù)據,,突破傳統(tǒng)設備僅能獲取脈沖后數(shù)據的限制,。
抗干擾與穩(wěn)定性
新開發(fā)電路板降低溫度依賴性及噪聲水平,提升長期測量穩(wěn)定性,。
16位AD轉換電路確保高精度數(shù)據采集,。
操作便捷性
配套軟件支持光譜輻照度計算、匹配度判斷及數(shù)據導出(CSV格式,,每1 nm輸出一次數(shù)據),。
支持Windows 7/Vista系統(tǒng)(日語版),,需用戶自備PC。
五,、標準配置與選件
基礎配置:光譜儀主機,、專用軟件、USB線,、帶反射擴散器的光纖(1.0m),、交流適配器及收納箱。
可選配件:標準光源單元,、反射擴散板固定單元(用于向上照射型太陽模擬器),。
六、使用注意事項
環(huán)境要求:工作溫度10-35°C,,濕度≤80%(無冷凝),。
兼容性限制:僅支持日語版Windows系統(tǒng),可能需額外配置語言環(huán)境,。
維護校準:更換光纖或反射器時需重新校準,,以確保測量精度。
總結
S-2440 II型憑借其寬波長覆蓋,、高動態(tài)響應及標準化支持,,成為太陽能電池研發(fā)和光源檢測的高效工具。其針對脈沖光優(yōu)化的同步測量技術和低噪聲設計,,尤其適用于高精度實驗室及工業(yè)檢測場景,。用戶需注意系統(tǒng)兼容性和維護要求以發(fā)揮其最佳性能。
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