在現(xiàn)代電子制造領(lǐng)域,球柵陣列(BGA)封裝技術(shù)因其高密度,、高性能和良好的散熱特性,被廣泛應(yīng)用于各種gao端電子產(chǎn)品中,。BGA封裝器件的可靠性直接關(guān)系到整個電子系統(tǒng)的穩(wěn)定運行,,而焊點作為連接芯片與基板的關(guān)鍵結(jié)構(gòu),其抗剪強度是衡量焊點可靠性的重要指標之一,。焊點抗剪強度的高低不僅影響著器件在組裝過程中的質(zhì)量,,更決定了其在實際使用中能否承受各種機械應(yīng)力和熱應(yīng)力的考驗。
本文科準測控小編旨在系統(tǒng)地研究BGA封裝器件焊點抗剪強度測試的各個方面,,包括測試設(shè)備的選擇與校準,、測試程序的優(yōu)化、數(shù)據(jù)處理與分析方法,,以及失效判據(jù)的建立與應(yīng)用,。
一、試驗?zāi)康?/span>
通過破壞性剪切測試評估BGA封裝器件焊點的抗切能力,,確保焊點在實際使用中的可靠性和穩(wěn)定性,。
二、檢測標準
如JEDEC標準JESD22-B117A和日本工業(yè)標準JIS Z 3198-5等
三,、試驗方法
1,、檢測設(shè)備
a、設(shè)備要求:應(yīng)使用校準的負載單元或傳感器,。設(shè)備的最大負載能力應(yīng)不小于凸點最大剪切力的1.1倍,。剪切工具的受力面寬度應(yīng)達到凸點直徑的1.1倍以上。設(shè)備應(yīng)能提供并記錄施加于凸點的剪切力,,并能對負載提供規(guī)定的移動速率,。
b、推薦設(shè)備
Beta S100 推拉力測試機
C,、設(shè)備特點
2,、試驗流程
步驟1、測試準備
設(shè)備校準:確保推拉力測試機已校準,,負載單元或傳感器的最大負載能力不小于凸點最大剪切力的1.1倍,。
剪切工具準備:選擇合適的剪切工具,受力面寬度應(yīng)達到凸點直徑的1.1倍以上,,確保推拉力測試機能提供并記錄施加于凸點的剪切力,,并能對負載提供規(guī)定的移動速率。
步驟2,、安裝剪切工具和試驗樣品
安裝剪切工具:將剪切工具安裝在推拉力測試機上,,確保剪切工具的受力面與芯片表面平行,。
安放芯片:小心地將BGA封裝器件安放在測試平臺上,,確保凸點不會受到損傷,且芯片不會變形。
調(diào)整位置:調(diào)整剪切工具的位置,,使其能夠準確地對準受試凸點,,確保剪切方向平行于芯片表面。
步驟3,、檢查凸點
使用金相顯微鏡:在試驗前,,使用金相顯微鏡對凸點進行檢查,確保凸點的形狀完好,,無助焊劑殘留或其他污染物,。
記錄初始狀態(tài):記錄凸點的初始狀態(tài),包括形狀,、尺寸和表面狀況,,以便與測試后的狀態(tài)進行對比。
步驟4,、移除鄰近凸點
評估設(shè)備限制:如果受推拉力測試機的限制,,受試凸點鄰近的凸點(和在剪切工具行進路徑上)可能需要先從樣品上移去。
移除凸點:小心地移除鄰近的凸點,,確保不會對受試凸點造成損傷,。
步驟5、設(shè)置剪切參數(shù)
剪切高度:設(shè)置剪切高度不低于凸點高度的10%,。
剪切速度:設(shè)置剪切速度為0.1 mm/s到0.8 mm/s,,確保剪切過程中保持恒定速率,直到剪切力下降到最大值的25%以下,,或直到剪切工具的移動距離超過凸點直徑,。
步驟6、進行剪切測試
啟動設(shè)備:啟動推拉力測試機,,開始對凸點進行剪切,。
記錄數(shù)據(jù):在剪切過程中,記錄凸點剪切力的最大值,、最小值,、平均值以及標準偏差。
觀察失效模式:觀察剪切過程中的失效模式,,記錄失效界面(焊料/焊盤,、焊盤/pcb基板、元器件端子/焊料),。
步驟7,、數(shù)據(jù)分析
計算最小剪切力:根據(jù)公式“最小凸點剪切力值=焊盤面積×凸點焊料抗剪切強度”計算最小剪切力。
建立失效判據(jù):完成足夠的數(shù)據(jù)測量后,,建立有代表性的基于平均值和標準偏差的失效判據(jù),。
評估失效模式:根據(jù)記錄的失效模式,判斷凸點的失效是否為合格失效模式(模式1和2)或不合格失效模式(模式3和4)。
步驟8,、測試報告
整理數(shù)據(jù):整理測試數(shù)據(jù),,包括凸點剪切力的最大值、最小值,、平均值,、標準偏差以及失效模式。
編寫報告:編寫測試報告,,詳細記錄測試過程,、測試結(jié)果和分析結(jié)論。
提交報告:將測試報告提交給相關(guān)部門或客戶,,以便進一步分析和決策,。
四、實際應(yīng)用中的注意事項
剪切高度:單板結(jié)構(gòu)焊點剪切高度為20 μm,,板級結(jié)構(gòu)焊點剪切高度為2.45 mm,。
剪切速率:一般為0.5 mm/s。
回流溫度影響:回流溫度對焊點的抗剪強度有顯著影響,。在單板結(jié)構(gòu)中,,高銀焊點的抗剪強度最高且一直增加,低銀焊點呈現(xiàn)出先增加后降低的趨勢,。在板級結(jié)構(gòu)中,,焊點的抗剪強度均隨回流溫度的升高呈現(xiàn)出先增加后降低的趨勢,其中添加稀土元素的低銀焊點的抗剪強度最高,。
以上就是小編介紹的有關(guān)于BGA封裝器件焊點抗剪強度測試相關(guān)內(nèi)容了,,希望可以給大家?guī)韼椭∪绻€想了解更多關(guān)于焊點抗剪力,、bag焊點檢測,、焊點抗拉強度和抗剪切強度,推拉力測試機原理,、怎么使用和使用方法視頻,,推拉力測試儀操作規(guī)范 、使用方法,、測試視頻和原理,,焊接強度測試儀使用方法等問題,歡迎您關(guān)注我們,,也可以給我們私信和留言,,【科準測控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測試機在鋰電池電阻、晶圓,、硅晶片,、IC半導(dǎo)體,、BGA元件焊點、ALMP封裝,、微電子封裝、LED封裝,、TO封裝等領(lǐng)域應(yīng)用中可能遇到的問題及解決方案,。
相關(guān)產(chǎn)品
免責(zé)聲明
- 凡本網(wǎng)注明“來源:化工儀器網(wǎng)”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網(wǎng)絡(luò)有限公司-化工儀器網(wǎng)合法擁有版權(quán)或有權(quán)使用的作品,,未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載,、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,,并注明“來源:化工儀器網(wǎng)”。違反上述聲明者,,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任,。
- 本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其他來源(非化工儀器網(wǎng))的作品,目的在于傳遞更多信息,,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點和對其真實性負責(zé),,不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體,、網(wǎng)站或個人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時,,必須保留本網(wǎng)注明的作品第一來源,并自負版權(quán)等法律責(zé)任,。
- 如涉及作品內(nèi)容,、版權(quán)等問題,請在作品發(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利,。