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引言

解卷積是一種通過對數(shù)據進行數(shù)學處理來還原樣品色譜圖信息的過程。在LC-40系列中,，SPD-M40檢測器擁有了i-PDeA Ⅱ（解卷積）功能,。

i-PDeA Ⅱ（Intelligent Peak Deconvolution Analysis Ⅱ）是對光電二極管陣列（PDA）檢測器數(shù)據應用化學計量的MCR-ALS（Multivariate Curve Resolution with Alternating Least Squares）法，從未分離的峰內提取目標峰的數(shù)據分析方法,。

未能通過色譜柱完全分離時也能準確定量,，可在分析具有相同分子量的異構體等情況下使用。也可以對分離后的數(shù)據進行光譜識別,。

智能峰解卷積功能,，可實現(xiàn)共流出化合物的智能分離。如下圖所示：

i-PDeA Ⅱ（解卷積）功能操作流程

該功能操作簡便,，可在LabSolutions再解析功能中直接處理數(shù)據,，具體操作流程如下：

1、在再解析中,，打開PDA檢測器的數(shù)據,，單擊方法視圖內的【編輯】按鈕后，在方法視圖的【多色譜圖】標簽內單擊Ch1的【類型】,。

2,、設置截取波長210nm和帶寬4nm，勾選去卷積,，并根據目標峰的洗脫時間設置去卷積條件（時間：1.6-2min,，波長：自動）。

3,、單擊方法視圖內的【視圖】按鈕,。程序將執(zhí)行去卷積和積分。

以上,，就是該功能的操作流程,，希望本文對您的工作有所幫助。