電波暗室就是內(nèi)表面全部裝有無(wú)反射材料的屏蔽室。模擬自由空間的傳播環(huán)境,，主要用于微波天線系統(tǒng)的參數(shù)測(cè)量。隨著電子技術(shù)的日益發(fā)展,，電波暗室已被更多的人了解和應(yīng)用,，那么怎樣判斷一個(gè)電波暗室的性能呢？下面一起來看看吧,。

一,、電波暗室的電性能指標(biāo)

通常用靜區(qū)，反射率電平,，交叉極化度,，多路徑損耗，幅度均勻性和工作頻率等六項(xiàng)指標(biāo)來表示,。

1,、交叉極化度：由于暗室結(jié)構(gòu)的不嚴(yán)格對(duì)稱、吸波材料對(duì)各種極化波吸收的不一致性以及暗室測(cè)試系統(tǒng)等因素使電波在暗室傳播過程中產(chǎn)生極化不純的現(xiàn)象,。如果待測(cè)試天線與發(fā)射天線的極化面正交和平行時(shí),，所測(cè)試場(chǎng)強(qiáng)之比小于-25dB，就認(rèn)為交叉極化度滿足要求,。

2,、多路徑損耗：路徑損耗不均勻會(huì)使電磁波的極化面旋轉(zhuǎn),，如果以來波方向旋轉(zhuǎn)待測(cè)試天線，接收信號(hào)的起伏不超過±0.25dB,，就可忽略多路徑損耗,。

3、場(chǎng)均勻性：在暗室靜區(qū),，沿軸移動(dòng)待測(cè)試天線,，要求起伏不超±2dB；在靜區(qū)的截面上,，橫向和上下移動(dòng)待測(cè)天線,，要求接收信號(hào)起伏不超過±0.25dB。

二,、電波暗室性能指標(biāo)

在利用光線發(fā)射法和能量物理法對(duì)暗室性能進(jìn)行仿真計(jì)算時(shí),，需要考慮電波的傳輸去耦，極化去耦,，標(biāo)準(zhǔn)天線的方向圖因素,，吸波材料本身的垂直入射性能和斜入射性能，多次反射等影響,。但在實(shí)際的工程設(shè)計(jì)過程中,，往往以吸波材料的性能作為暗室性能的關(guān)鍵決定因素。

三,、天線測(cè)量的誤差

1、有限測(cè)試距離所引起的誤差,。設(shè)待測(cè)的是平面天線,，接收的來波沿其主波束的軸向。若測(cè)試距離大小,，由待測(cè)天線之不同部位所接受的場(chǎng)不能相同,，因此具有平方根律相位差。若待測(cè)天線恰位于源天線遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)的邊界2D2/λ,，其口徑邊緣與相位中心的場(chǎng)存在22.5度的相位差.若測(cè)試距離加倍,，在相位差減半。對(duì)于測(cè)量中等旁瓣電平的天線,，距離2D2/λ通常已經(jīng)足夠,，測(cè)出的增益約偏小0.06dB。測(cè)試距離縮短會(huì)使測(cè)量誤差迅速增大,，旁瓣會(huì)與主波束合并成肩臺(tái)式,，甚至合為一體。通常0.25dB的錐銷使測(cè)出的增益降低約為0.1dB,，并造成近旁瓣的些許誤差,。

2,、反射。直射波受從周圍物體反射的干涉,，在測(cè)試區(qū)域形成場(chǎng)的變化,，由于該波波程差作為位置的函數(shù)而迅速變化，使起伏的長(zhǎng)度屬于波長(zhǎng)的數(shù)量級(jí),。例如比直射波低20dB的反射波,，可引起-0.92～+0.83dB的功率誤差，具體取決于兩種之間的差異,；相位測(cè)量的誤差范圍為±5.7°,，但若反射波的場(chǎng)比直射波低40dB，則側(cè)出的幅度與相位分別僅有±0.09與±0.6°的誤差,。反射在低旁瓣的測(cè)量中特別有害,。一項(xiàng)很小的反射通過主瓣耦合到待測(cè)天線，可以掩蓋住耦合到旁瓣的直射波,。如果相耦合的直射和反射波強(qiáng)度相等,，則測(cè)出的旁瓣電平會(huì)抬高6dB左右，或者在測(cè)得的波瓣圖中成為零點(diǎn),。

3,、其他誤差。還可能導(dǎo)致天線測(cè)量產(chǎn)生誤差的因素有：低頻時(shí)與電抗近場(chǎng)的耦合可能比較顯著,；測(cè)量天線的對(duì)準(zhǔn)誤差,；其他干擾信號(hào)；測(cè)試電纜所引起的誤差等,。

電波暗室的應(yīng)用已經(jīng)越來越廣泛,，為了滿足人們的需求也會(huì)對(duì)電波暗室各個(gè)參數(shù)及各個(gè)方面做出改善。