電波暗室就是內表面全部裝有無反射材料的屏蔽室,。模擬自由空間的傳播環(huán)境，主要用于微波天線系統(tǒng)的參數測量,。隨著電子技術的日益發(fā)展,，電波暗室已被更多的人了解和應用，那么怎樣判斷一個電波暗室的性能呢,？下面一起來看看吧,。

一、電波暗室的電性能指標

通常用靜區(qū),，反射率電平,，交叉極化度，多路徑損耗,，幅度均勻性和工作頻率等六項指標來表示,。

1、交叉極化度：由于暗室結構的不嚴格對稱,、吸波材料對各種極化波吸收的不一致性以及暗室測試系統(tǒng)等因素使電波在暗室傳播過程中產生極化不純的現象,。如果待測試天線與發(fā)射天線的極化面正交和平行時，所測試場強之比小于-25dB,，就認為交叉極化度滿足要求,。

2、多路徑損耗：路徑損耗不均勻會使電磁波的極化面旋轉,，如果以來波方向旋轉待測試天線,，接收信號的起伏不超過±0.25dB，就可忽略多路徑損耗,。

3,、場均勻性：在暗室靜區(qū)，沿軸移動待測試天線,，要求起伏不超±2dB,；在靜區(qū)的截面上，橫向和上下移動待測天線,，要求接收信號起伏不超過±0.25dB,。

二,、電波暗室性能指標

在利用光線發(fā)射法和能量物理法對暗室性能進行仿真計算時，需要考慮電波的傳輸去耦,，極化去耦,，標準天線的方向圖因素,，吸波材料本身的垂直入射性能和斜入射性能,，多次反射等影響。但在實際的工程設計過程中,，往往以吸波材料的性能作為暗室性能的關鍵決定因素,。

三,、天線測量的誤差

1,、有限測試距離所引起的誤差。設待測的是平面天線,，接收的來波沿其主波束的軸向,。若測試距離大小,，由待測天線之不同部位所接受的場不能相同,，因此具有平方根律相位差。若待測天線恰位于源天線遠場區(qū)的邊界2D2/λ,，其口徑邊緣與相位中心的場存在22.5度的相位差.若測試距離加倍,，在相位差減半。對于測量中等旁瓣電平的天線,，距離2D2/λ通常已經足夠，測出的增益約偏小0.06dB,。測試距離縮短會使測量誤差迅速增大,，旁瓣會與主波束合并成肩臺式，甚至合為一體,。通常0.25dB的錐銷使測出的增益降低約為0.1dB,，并造成近旁瓣的些許誤差。

2,、反射,。直射波受從周圍物體反射的干涉,，在測試區(qū)域形成場的變化,，由于該波波程差作為位置的函數而迅速變化，使起伏的長度屬于波長的數量級,。例如比直射波低20dB的反射波,，可引起-0.92～+0.83dB的功率誤差,，具體取決于兩種之間的差異；相位測量的誤差范圍為±5.7°,，但若反射波的場比直射波低40dB，則側出的幅度與相位分別僅有±0.09與±0.6°的誤差,。反射在低旁瓣的測量中特別有害,。一項很小的反射通過主瓣耦合到待測天線，可以掩蓋住耦合到旁瓣的直射波,。如果相耦合的直射和反射波強度相等,，則測出的旁瓣電平會抬高6dB左右，或者在測得的波瓣圖中成為零點,。

3,、其他誤差。還可能導致天線測量產生誤差的因素有：低頻時與電抗近場的耦合可能比較顯著,；測量天線的對準誤差,；其他干擾信號；測試電纜所引起的誤差等,。

電波暗室的應用已經越來越廣泛,，為了滿足人們的需求也會對電波暗室各個參數及各個方面做出改善。